[发明专利]键帽结构组装不良测试机

权利要求书

1.键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器(41)以及与其相连的检测头(42)，所述检测头(42)顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头(42)用于插入键帽一侧底部。

2.根据权利要求1所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括Y轴向移动装置，沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件，所述检测头(42)以Y轴向为中心线左右对称设置，若干组所述检测头组件分为多列错开分布，所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。

3.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括间隙调节装置，所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。

4.根据权利要求3所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机(61)以及轨道(62)，所述电机(61)输出轴与所述检测头组件连接。

5.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮(51)，用于按压待检测键帽相邻行的键帽。

6.根据权利要求2所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还包括Z轴向移动装置，用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。

7.根据权利要求6所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，还设有配重弹簧(7)，用于维持所有所述检测头组件的高度。

8.根据权利要求2-7任一项所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，包括7组所述检测头组件，7组所述检测头组件分为四列七行，以向X轴向行进方向起始端为第一列，以垂直于X轴行进方向起始端为第一行，7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。

9.根据权利要求8所述的键帽结构组装不良测试机，其特征是，所述检测头(42)顶面为光滑面。