[发明专利]键帽结构组装不良测试机

说明书

本发明公开了一种键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头，所述检测头顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头用于插入键帽一侧底部。本发明结构紧凑、测试效率高、准确性高以及适用范围广的特点。

技术领域

本发明涉及一种键帽结构组装不良测试机，属于键帽测试机技术领域。

背景技术

键盘一般是由键板与键帽组合而成的，键帽通常通过四周的剪刀脚卡扣结构卡合在键板上，并位于相应的按键上方。组装过程中容易出现各类卡扣不良，如：未卡合上、卡扣力度不足、卡扣易掉落等，这类问题直接影响消费者的操作。为了避免键帽的卡扣不良，在键帽安装后，需要对其进行拉拔力测试，即对键帽施加一定大小的作用力向外拉键帽，如果键帽四角的卡扣依然良好则表示键帽卡扣良好。

现有技术中，常用人工扣键帽的拉拔测试，这种方式具有成本高、效率低、结果准确性差的问题，无法满足现代工业生产的要求，还有采用机械设备进行自动检测，如使用刷key机，在组装好的键盘键帽上正方，用一块柔性硅胶下降到键帽上方并干涉接触，然而这种检测方法存在检出率很低且会对良品造成损伤等不足；或是使用顶key机，在组装好的键盘键帽下正方，在每个key的正下方装上对应探针，用探针的压缩行程量来控制探针的弹力，从而把不良的键帽顶出键帽整体结构，因为整个不良的判断是靠人工目测完成而需要很明显的键帽脱离，由于键盘的多变性和探针的疲劳耐力有限，故检出率也很低并误判率也很高；再或是使用吸key机，在每个键帽的上方用吸盘靠足够的真空于键帽表面接触，从而产生吸力，往上拉拔键帽，由于吸盘的力是垂直向上的，而单脚的结构不良键帽，它的垂直拉拔力是正常的所以检出力也会大大折扣，并且键盘的多变性多样性，造成设备的更换维护成本很高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，提供一种结构紧凑、测试效率高、准确性高、适用范围广的键帽结构组装不良测试机。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

键帽结构组装不良测试机，包括X轴向移动装置以及检测头组件，所述检测头组件通过连接装置安装在所述X轴向移动装置上，在所述驱动装置作用下沿水平方向移动，所述检测头组件包括压力传感器以及与其相连的检测头，所述检测头顶面为坡面，沿所述X轴向移动装置行进方向由高至低分布，所述检测头用于插入键帽一侧底部。

还包括Y轴向移动装置，沿Y轴向安装有若干组所述检测头组件，所述检测头以Y轴向为中心线左右对称设置，若干组所述检测头组件分为多列错开分布，所述Y轴向移动装置用于使若干组所述检测头组件沿Y轴向与待检键盘相对移动。

还包括间隙调节装置，所述间隙调节装置用于调节每个所述检测头组件在Y轴向上的位置。

所述间隙调节装置包括沿Y轴向移动的电机以及轨道，所述电机输出轴与所述检测头组件连接。

每组所述检测头组件四周与所述检测头错开分布有压轮，用于按压待检测键帽相邻行的键帽。

还包括Z轴向移动装置，用于使所述检测头组件沿Z轴向与待检键盘相对移动。

还设有配重弹簧，用于维持所有所述检测头组件的高度。

包括7组所述检测头组件，7组所述检测头组件分为四列七行，以向X轴向行进方向起始端为第一列，以垂直于X轴行进方向起始端为第一行，7组所述检测头组件分布方式为第一列第六行、第二列第四行、第三列第二行和第五行以及第四列第一行、第三行和第七行。

所述检测头顶面为光滑面。