[发明专利]芯片布线方法

权利要求书

1.一种芯片布线方法，其特征在于，包括：

通过对芯片进行布局布线获得所述芯片上布线拥塞的拥塞区域；

获取所述拥塞区域中的多个标准单元；

根据所述拥塞区域在所述芯片上的位置，确定各标准单元的坐标；

根据各标准单元的坐标，对各标准单元的位置进行调整；

若所述拥塞区域位于所述芯片上靠近第一block的多个引脚的位置，则获取第一block的多个引脚的横坐标，并获取所述第一block靠近所述拥塞区域的边界的纵坐标；

将获得的多个横坐标依次作为所述多个标准单元的横坐标；其中，所述多个横坐标与所述多个标准单元一一对应；

以所述第一block靠近所述拥塞区域的边界的纵坐标为起点，按照第一预定步长朝远离所述第一block的方向移位，得到所述多个标准单元的纵坐标；其中，按照多个标准单元的横坐标从左至右的顺序，将每次移位后的纵坐标作为一标准单元的纵坐标；

通过布局布线工具对芯片进行布局布线获得所述芯片上布线拥塞的拥塞区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述拥塞区域在所述芯片上的位置，确定各标准单元的坐标的步骤，包括：

若所述拥塞区域位于所述芯片上靠近第一block的多个引脚的位置，则获取第一block的多个引脚的横坐标，并获取所述第一block靠近所述拥塞区域的边界的纵坐标；

将获得的多个横坐标依次作为所述多个标准单元的横坐标；其中，所述多个横坐标与所述多个标准单元一一对应；

以所述第一block靠近所述拥塞区域的边界的纵坐标为起点，按照第一预定步长朝远离所述第一block的方向移位，得到所述多个标准单元的纵坐标；其中，按照多个标准单元的横坐标从左至右的顺序，将每次移位后的纵坐标作为一标准单元的纵坐标。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述按照多个标准单元的横坐标从左至右的顺序，将每次移位后的纵坐标作为一标准单元的纵坐标的步骤之后，所述方法还包括：

获取所述芯片上能用于纵向走线的金属层数，以及所述多个引脚中每相邻两个引脚之间的间距；

若所述拥塞区域位于所述第一block的下方，则通过公式y_n＝y₀-n/(L₁*k)*h₁调整所述标准单元的纵坐标；其中y_n表示第n个标准单元调整后的纵坐标，所述多个标准单元按照横坐标从左至右的顺序排序，y₀表示所述第一block靠近所述拥塞区域的边界的纵坐标，L₁表示所述芯片上能用于纵向走线的金属层数，k表示所述多个引脚中每相邻两个引脚之间的间距与金属线的节距的比值，h₁表示所述第一预定步长；

若所述拥塞区域位于所述第一block的上方，则通过公式y_n＝y₀+n/(L₁*k)*h₁调整所述标准单元的纵坐标。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述拥塞区域在所述芯片上的位置，确定各标准单元的坐标的步骤，包括：

若所述拥塞区域位于所述芯片上靠近第二block的边角的位置，则获取所述第二block的边角的角点坐标；

以所述角点坐标的横坐标为起点，按照第二预定步长朝远离所述第二block的方向移位，得到所述多个标准单元的横坐标；其中将每次移位后的横坐标作为一标准单元的横坐标；

以所述角点坐标的纵坐标为起点，按照第三预定步长朝远离所述第二block的方向移位，得到所述多个标准单元的纵坐标；其中按照多个标准单元的横坐标从右至左的顺序，将每次移位后的纵坐标作为一标准单元的纵坐标。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述按照多个标准单元的横坐标从右至左的顺序，将每次移位后的纵坐标作为一标准单元的纵坐标的步骤之后，所述方法还包括：

获取所述第二block靠近所述拥塞区域的第一边界与所述拥塞区域靠近所述第二block的第二边界的第一距离，以及所述第二block靠近所述拥塞区域的第三边界与所述拥塞区域靠近所述第二block的第四边界的第二距离；

若所述拥塞区域位于所述第二block的边角的下方，则通过公式x_n＝x₀-n*h₂*L₂/L₃调整所述标准单元的横坐标；其中，x_n表示第n个标准单元调整后的横坐标，所述多个标准单元按照横坐标从右至左的顺序排序，x₀表示所述角点坐标的横坐标，h₂表示所述第三预定步长，L₂表示所述第一距离，L₃表示所述第二距离；

若所述拥塞区域位于所述第二block的边角的上方，则通过公式x_n＝x₀+n*h₂*L₂/L₃调整所述标准单元的横坐标。