[发明专利]柔性基板的抗弯折性能评估方法有效
申请号: | 201810272257.0 | 申请日: | 2018-03-29 |
公开(公告)号: | CN108535119B | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 徐义影;董勇杰 | 申请(专利权)人: | 广州国显科技有限公司 |
主分类号: | G01N3/20 | 分类号: | G01N3/20 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 唐清凯 |
地址: | 511300 广东省广州市增城区永*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 柔性 抗弯折 性能 评估 方法 | ||
1.一种柔性基板的抗弯折性能评估方法,包括:
取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样;
取至少一个所述待测试试样作为标准样本,将所述标准样本反复弯折,直至所述柔性基板已无法正常显示而失效;
测试失效的所述标准样本的所述特征膜层的特征值,得到第一预设特征值;取至少一个所述待测试试样作为标准样本,将所述标准样本反复弯折,直至所述柔性基板上开始出现微裂纹;
测试出现微裂纹的所述标准样本的所述特征膜层的特征值,得到第二预设特征值;
测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值;
将所述实际特征值和所述第一预设特征值进行比较;
当所述实际特征值小于所述第一预设特征值时,所述柔性基板的抗弯折性能不合格;
将所述实际特征值和所述第二预设特征值进行比较;
当所述实际特征值大于所述第二预设特征值时,所述柔性基板的抗弯折性能良好;
当所述实际特征值大于所述第一预设特征值小于所述第二预设特征值时,所述柔性基板的抗弯折性能合格;
所述特征值为所述特征膜层的吸光度、荧光强度、微观粒子数量中的一种或多种。
2.根据权利要求1所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述特征膜层由量子点材料与有机材料混合制得。
3.根据权利要求2所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述量子点材料包含CdS。
4.根据权利要求2所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述量子点材料包含CdTe。
5.根据权利要求2所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述量子点材料包含CdSe。
6.根据权利要求2所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述有机材料为环氧树脂。
7.根据权利要求1所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,还包括:
封装层,设置于所述特征膜层的外部。
8.根据权利要求7所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,所述封装层包含四氟乙烯TFE和/或聚对苯二甲酸乙二醇酯PET。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,
所述试样采用三点弯曲方式进行弯折测试;取所述试样的一个待测点作为受力点,在所述试样上取所述受力点两侧的任意两点为支撑点,两所述支撑点能够围绕所述受力点进行一定角度的弯曲,以形成两相等的弯矩,对所述试样施加弯曲应力。
10.根据权利要求1-8中任一项所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法,其特征在于,
所述试样采用四点弯曲方式进行弯折测试;取所述试样的两个待测点作为受力点,分别在两个所述受力点两侧取任意两点为支撑点,两所述支撑点能够分别围绕最接近的所述受力点进行一定角度的弯曲,以形成两相等的弯矩,对所述试样施加弯曲应力。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州国显科技有限公司,未经广州国显科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810272257.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电缆弯曲试验机构
- 下一篇:一种LED芯片强度测试装置