[发明专利]柔性基板的抗弯折性能评估方法

说明书

本发明涉及一种柔性基板的抗弯折性能评估方法。包括：取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样，得到若干待测试试样。将所述试样弯折一定次数。测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值。将实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估试样的抗弯折性能。本发明的柔性基板抗弯折性能评估方法，能够直观准确的评估出柔性基板的抗弯折性能。

技术领域

本发明涉及材料的力学性能的检测方法，特别是涉及柔性基板的抗弯折性能评估方法。

背景技术

柔性材料在显示技术中的应用已成为显示行业中的重要发展方向。柔性基板可随意弯折的特性，使得柔性显示器件有着极为广阔的应用。因此，柔性基板需要能够承受反复弯折的考验。柔性材料在反复弯曲的作用下，材料会因疲劳而导致力学性能下降。所以柔性基板的弯折疲劳性能直接影响着显示器件的使用寿命。行业内需要公认的测试方法来便于行业内部能够对柔性基板的抗弯折性能进行评定，同时便于用户进行比较和选择。但是，目前并没有标准的测试柔性基板的抗弯折性能的方法。

发明内容

基于此，本发明提供一种柔性基板抗弯折性能评估方法，能够直观准确的评估出柔性基板的抗弯折性能。

一种柔性基板的抗弯折性能评估方法，包括：

取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样；

将所述试样弯折一定次数；

测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值；

将所述实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估所述试样的抗弯折性能。

上述柔性基板的抗弯折性能评估方法，通过测试特征膜层的光谱特征变化来评估柔性基板的抗弯折性能。方法简单直观，准确率高，方便产品生产过程中的质量监控，可保证柔性基板具有良好的可靠性和稳定性。

在其中一个实施例中，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板已无法正常显示而失效；

测试失效的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第一预设特征值。

在其中一个实施例中，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板上开始出现微裂纹；

测试出现微裂纹的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第二预设特征值。

在其中一个实施例中，将所述实际特征值和所述第二预设特征值进行比较；

当所述实际特征值大于所述第二预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能良好。

在其中一个实施例中，所述实际特征值和所述第一预设特征值进行比较；

当所述实际特征值小于所述第一预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能不合格。

在其中一个实施例中，当所述实际特征值大于所述第一预设特征值小于所述第二预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能合格。

在其中一个实施例中，所述特征值为所述特征膜层的吸光度、荧光强度、微观粒子数量中的一种或多种。

在其中一个实施例中，所述特征膜层为量子点膜层，所述量子点膜层含有CdS、CdTe和CdSe粒子中的一种或多种。

在其中一个实施例中，所述试样采用三点弯曲方式进行弯折测试；取所述试样的一个待测点作为受力点，在所述试样上取所述受力点两侧的任意两点为支撑点，两所述支撑点能够围绕所述受力点进行一定角度的弯曲，以形成两相等的弯矩，对所述试样施加弯曲应力。