[发明专利]一种闪存颗粒筛选分级的方法

权利要求书

1.一种闪存颗粒筛选分级的方法，其特征在于通过温变检验法测试获得闪存颗粒每个块在选定目标温度条件下写入，分别以不同温度下读取的原始比特错误率；采用对比分类法根据获取的原始比特错误率来判断每个块的强弱等级，最后根据FLASH中强弱等级的块的数量分布来区分FLASH等级；所述温变检验法具体为：

步骤5.1：开始筛选流程后，先设置目标写温度；

步骤5.2：对所有块写操作；

步骤5.3：设置目标读温度；

步骤5.4：目标块读检查，记录该块信息，至少记录该块的原始比特错误率；

步骤5.5：判断所有温区是否完成读检查，如果完成则继续向下处理；如果未完成，则跳转到步骤5.3设置新的目标读温度后继续执行；

步骤5.6：判断是否还有目标写温度需要测试，如果是则跳转到步骤5.1,否则继续执行；

所述的对比分类法具体为：根据不同温区获得的每个块的原始比特错误率的高低进行块强弱等级划分，不同温区分别设置一个判断阈值，对应温区的块的原始比特错误率超过该温区对应的判断阈值的，则将该块归属到一个强弱等级上；对于不超过单个温区对应的判断阈值的，设定不同温区对比差值阈值，同一块对应不同温区的原始比特错误率差值超过该对应不同温区对应的对比差值阈值的，则将该块归属到另一个强弱等级上；剩余的块单独归为再一个强弱等级。

2.根据权利要求1所述的闪存颗粒筛选分级的方法，其特征在于根据FLASH中分布在每个强弱等级的块的数量或多个强弱等级的块的数量和的分布来对FLASH分类。