[发明专利]一种芯片测试方法及芯片测试模块

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

对连接于所述芯片的测试模块进行测试；

预设sign-off的值，并根据所述sign-off的值设置测试模块的延时；

根据所述芯片预设的目标频率设置所述测试模块的时钟频率；

判断所述芯片的测试模块在预设的时钟频率下是否正常工作：若所述测试模块在预设时钟频率下能正常工作，则继续对该芯片做完整的测试工作；若所述测试模块在预设的时钟频率下不能正常工作，结束测试。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试模块的延时的值与所述预设的sign-off的值互为倒数。

3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试模块的时钟频率与所述芯片的目标频率相等。

4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试模块为连接于所述芯片电路的二分频电路。

5.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述方法还包括以下步骤：

所述芯片预设的目标频率设有多个，将所述测试模块根据目标频率由大到小依次进行测试；

所述测试模块的时钟频率根据最大目标频率到最小目标频率依次进行设置；

若测试模块在当前时钟频率下正常工作，则对该芯片进行完整测试；若所述测试在当前时钟频率下无法正常工作，则根据所述目标频率依次减小所述时钟频率，并再次判断所述测试模块是否能正常工作；

若所述测试模块在最小时钟频率下不能正常工作，则结束测试。

6.一种芯片测试模块，其特征在于，包括连接于所述芯片的测试模块，所述测试模块包括连接于芯片电路的二分频电路，所述二分频电路包括连接于计数器的计时器和延时单元；所述计时器发送时钟频率至所述计数器，所述计数器进行计数、并经延时单元延时后输出计数信号；

所述测试模块还包括比较单元，所述比较单元比较预设输出频率与输出的计数信号的大小，并输出比较结果。

7.根据权利要求6所述的芯片测试模块，其特征在于，所述延时单元的延时与预设的sign-off的值互为倒数。

8.根据权利要求6所述的芯片测试模块，其特征在于，所述测试模块的时钟频率与所述芯片的目标频率相等。