[发明专利]有助于产品缺陷的误差分析的系统和方法

权利要求书

1.一种有助于产品缺陷的误差分析的系统，其特征在于，包括：

显示装置；以及

至少一个处理器，被配置成：

将与产品的数字部分的生命周期相关的第一生命周期信息存储在生命周期数据库中，其中，所述第一生命周期信息包括以下中的至少一种：概念信息、设计信息、实现信息、审查计划信息或它们的任何组合；

将与所述产品的物理部分的制造操作相关的第一制造操作信息存储在制造操作数据库中，其中，所述物理部分与产品的所述数字部分是相同的部分，所述第一制造操作信息包括以下中的至少一种：生产数据、产品验证数据、审查执行数据或它们的任何组合；

将与所述产品的生命周期问题和/或不合格项相关的第二生命周期信息存储在所述生命周期数据库中；

将与所述产品的顾虑和/或投诉相关的第二制造操作信息存储在所述制造操作数据库中；

将与来自所述生命周期数据库的所述第二生命周期信息相关的第一参考信息存储在所述制造操作数据库中；

通过所述显示装置在图形用户界面中显示存储在所述制造操作数据库中的所述第一制造操作信息、存储在所述制造操作数据库中的所述第二制造操作信息以及使用存储在所述制造操作数据库中的所述第一参考信息的、存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息，其中，在单个显示位置提供集中式方法允许所述生命周期数据库和所述制造操作数据库两者的用户进行产品缺陷来源的误差分析；

确定与所述产品缺陷相关的误差信息，包括对产品的所述数字部分和所述物理部分的根本原因进行分析以识别所述产品缺陷的来源；以及

通过所述显示装置在所述图形用户界面中显示所确定的误差信息。

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一参考信息至少包括从所述制造操作数据库到存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息的链接。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述至少一个处理器还被配置成：

通过输入装置接收至少一个第一输入，所述至少一个第一输入对应于与所述第一制造操作信息、所述第二制造操作信息和所述第二生命周期信息相关的查询；

将存储在所述制造操作数据库中的所述第一制造操作信息、存储在所述制造操作数据库中的所述第二制造操作信息以及使用存储在所述制造操作数据库中的所述第一参考信息的、存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息输入到信息检索算法；

使用所述信息检索算法来确定与所述查询相关的信息；

通过所述显示装置生成图形用户界面，所述显示装置使得与所述查询相关的确定信息能够在所述图形用户界面中显示；

使与所述查询相关的所述确定信息在所述图形用户界面中显示。

4.根据权利要求3所述的系统，其中，所述至少一个处理器还被配置成：

将与所述查询相关的确定信息存储在所述制造操作数据库中。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，所述至少一个处理器还被配置成：

将存储在所述制造操作数据库中的所述第一制造操作信息、存储在所述制造操作数据库中的所述第二制造操作信息以及使用存储在所述制造操作数据库中的所述第一参考信息的、存储在所述生命周期数据库中的所述第二生命周期信息输入到误差分析算法；

使用所述误差分析算法来确定与所述产品缺陷相关的误差信息；

通过所述显示装置生成图形用户界面，所述显示装置使得确定的误差信息能够在所述图形用户界面中显示；

使所述确定的误差信息在所述图形用户界面中显示。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，所述至少一个处理器还被配置成：

将与所述产品缺陷相关的所述确定的误差信息存储在所述制造操作数据库中。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述至少一个处理器还被配置成：

将与来自所述制造操作数据库的所述确定的误差信息相关的第二参考信息存储在所述生命周期数据库中。