[发明专利]有助于产品缺陷的误差分析的系统和方法

说明书

本申请公开了一种有助于产品缺陷的误差分析的系统和方法。系统可包括处理器，处理器被配置成：将与产品的生命周期相关的生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的制造操作相关的制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与产品的生命周期问题和/或不合格项相关的另外生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的顾虑和/或投诉相关的另外制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与来自生命周期数据库的另外生命周期信息相关的第一参考信息存储在制造操作数据库中；通过显示装置生成图形用户界面(GUI)；使制造操作信息、另外制造操作信息以及另外生命周期信息在GUI中显示。

技术领域

本公开主要涉及产品生命周期管理(PLM)系统、制造操作管理(MOM)系统、质量管理系统(QMS)和类似系统，这些系统用于创建、使用和管理产品的数据及其它项目(在本文中统称为产品系统)。

背景技术

与产品相关并存储在产品系统中的数据和信息可能存在导致产品缺陷的误差。此类产品系统可以从改进中受益。

发明内容

各种公开的实施方案包含可用来有助于对产品缺陷进行误差分析的数据处理系统和方法。

在一个实例中，有助于对产品缺陷进行误差分析的系统可以包括至少一个处理器，被配置成：将与产品的生命周期相关的生命周期信息存储在生命周期数据库中，生命周期信息包括以下中的至少一种：概念信息、设计信息、实现信息、审查计划信息或它们的任何组合；将与产品的制造操作相关的制造操作信息存储在制造操作数据库中，制造操作信息包括以下中的至少一种：生产数据、产品验证数据、审查执行数据或它们的任何组合；将与产品的生命周期问题和/或不合格项相关的另外生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的顾虑和/或投诉相关的另外制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与来自生命周期数据库的另外生命周期信息相关的第一参考信息存储在制造操作数据库中；通过显示装置生成图形用户界面(GUI)，显示装置使得存储在制造操作数据库中的制造操作信息、存储在制造操作数据库中的另外制造操作信息以及使用存储在制造操作数据库中的第一参考信息的、存储在生命周期数据库中的另外生命周期信息能够在GUI中显示；使存储在制造操作数据库中的制造操作信息、存储在制造操作数据库中的另外制造操作信息以及使用存储在制造操作数据库中的第一参考信息的、存储在生命周期数据库中的另外生命周期信息在GUI中显示。

在另一个实例中，有助于对产品缺陷进行误差分析的系统可以包括至少一个处理器，被配置成：将与产品的生命周期相关的生命周期信息存储在生命周期数据库中，生命周期信息包括以下中的至少一种：概念信息、设计信息、实现信息、审查计划信息或它们的任何组合；将与产品的制造操作相关的制造操作信息存储在制造操作数据库中，制造操作信息包括以下中的至少一种：生产数据、产品验证数据、审查执行数据或它们的任何组合；将与产品的生命周期问题和/或不合格项相关的另外生命周期信息存储在生命周期数据库中；将与产品的顾虑和/或投诉相关的另外制造操作信息存储在制造操作数据库中；将与来自制造操作数据库的另外制造操作信息相关的第三参考信息存储在生命周期数据库中；通过显示装置生成图形用户界面(GUI)，显示装置使得存储在生命周期数据库中的生命周期信息、存储在生命周期数据库中的另外生命周期信息以及使用存储在生命周期数据库中的第三参考信息的、存储在制造操作数据库中的另外制造操作信息能够在GUI中显示；使存储在生命周期数据库中的生命周期信息、存储在生命周期数据库中的另外生命周期信息以及使用存储在生命周期数据库中的第三参考信息的、存储在制造操作数据库中的另外制造操作信息在GUI中显示。

本领域技术人员会理解的是，他们可以轻易地将上述两种系统组合以便有助于对产品缺陷进行误差分析。