[发明专利]形成芯片封装体的方法有效

专利信息
申请号: 201810306349.6 申请日: 2018-04-08
公开(公告)号: CN109727946B 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 郑心圃;蔡柏豪;庄博尧;许峯诚;陈硕懋;翁得期 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/538
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 形成 芯片 封装 方法
【说明书】:

提供形成芯片封装体的方法。方法包括将芯片置于再布线结构上。再布线结构包括第一绝缘层与第一线路层,且第一线路层位于第一绝缘层中并电性连接至芯片。方法亦包括经由导电结构将中介基板接合至再布线结构。芯片位于中介基板与再布线结构之间。中介基板具有与再布线结构相邻的凹陷。芯片的第一部分位于凹陷中。中介基板包括基板与导电通孔结构,且导电通孔结构穿过基板并经由导电结构电性连接至第一线路层。

技术领域

发明实施例关于芯片封装体,更特别关于其中介基板。

背景技术

半导体装置已用于多种电子应用中,比如个人电脑、手机、数码相机、与其他电子设备中。半导体装置的制作方法通常为依序沉积绝缘层或介电层、导电层、与半导体于半导体基板上,并采用光刻工艺与蚀刻工艺图案化多种材料层,以形成电路构件与单元于其上。

在半导体晶圆上通常形成有许多集成电路。半导体晶圆可切割成晶粒。接着可封装晶粒,且多种已发展的技术可用于封装。

发明内容

本公开一实施例提供形成芯片封装体的方法,包括:将芯片置于再布线结构上,其中再布线结构包括第一绝缘层与第一线路层,且第一线路层位于第一绝缘层中并电性连接至芯片;以及经由导电结构将中介基板接合至再布线结构,其中芯片位于中介基板与再布线结构之间,中介基板具有与再布线结构相邻的凹陷,芯片的第一部分位于凹陷中,中介基板包括基板与导电通孔结构,且导电通孔结构穿过基板并经由导电结构电性连接至第一线路层。

附图说明

图1A至图1J是一些实施例中,形成芯片封装体的工艺的多种阶段的剖视图。

图1D-1是一些实施例中,图1D的芯片封装体的俯视图。

图2是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图3A至图3B是一些实施例中,形成芯片封装体的工艺的多种阶段的剖视图。

图4是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图5是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图6是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图7A至图7B是一些实施例中,形成芯片封装体的工艺的多种阶段的剖视图。

图8A是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图8B是一些实施例中,图8A的芯片封装体的中介基板的俯视图。

图9A是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图9B是一些实施例中,图9A的芯片封装体的中介基板的俯视图。

图10A是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图10B是一些实施例中,图10A的芯片封装体的中介基板的俯视图。

图11是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图12是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图13是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

图14A至图14D是一些实施例中,形成芯片封装体的工艺的多种阶段的剖视图。

图15是一些实施例中,芯片封装体的剖视图。

附图标记说明:

A 粘着层

C1、C3、C4、C5、C6、C7、C8、C9、C10、C11、C12、C13、C14、C15、100、300 芯片封装体

D1 深度

R 凹陷

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