[发明专利]基于荧光材料的无损检测方法

权利要求书

1.基于荧光材料的无损检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理获得待测产品的表面信息。

2.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于,所述激发光为激光。

3.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于,所述非平行激发光通过激发光探头对准测试点进行激发。

4.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于,所述方法还包括以下步骤:所述荧光信号与其对应测试点位置的换算关系设定。

5.根据权利要求4所述的无损检测方法，其特征在于,采用以下方式进行所述换算关系的设定：恒定激发光功率，改变非平行激发光与已知距离位置测试点的相对距离，获取不同相对距离下的荧光信号，将所述不同相对距离下的荧光信号及其对应的相对距离进行数据拟合。

6.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于，所述荧光信号为荧光寿命或不同波长的发光峰峰面积比。

7.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于,所述非平行激发光通过以下方式获得：激发器发出激发光，所述激发光经由透镜获得所述非平行激发光。

8.根据权利要求5所述的无损检测方法，其特征在于,将所述不同相对距离下的荧光信号及其对应的相对距离以以下函数的方式进行数据拟合:y＝k₀+k₁x+k₂x²…+k_ixⁱ；其中y为相对距离，x为荧光信号。

9.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于，所述荧光剂为稀土族元素掺杂发光材料、过渡族金属元素掺杂发光材料、稀土族元素和过渡族金属元素共同掺杂发光材料、或半导体量子点中的一种或几种。

10.根据权利要求1所述的无损检测方法，其特征在于，所述无损检测方法用于对固体内表面或外表面的三维定量检测。