[发明专利]基于荧光材料的无损检测方法

说明书

本发明提供一种基于荧光材料的无损检测方法,所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理为待测产品表面的形态信息，本发明的无损检测方法可通过在待测产品表面覆盖荧光剂层通过非平行激发光激发获得对应的荧光信号从而获得被测产品的表面形态信息。

技术领域

本发明属于产品无损检测领域，具体涉及一种基于荧光材料的无损检测方法。

背景技术

无损探伤检测技术已广泛的应用在产品检测、后期维护等众多工业领域。传统的无损检测方法有超声波法、渗透法、磁粉检测法。目前现有的测试方法和装置均不能对表面进行定量的检测，只可以进行定性的检测。而且这些方法都有一定的局限性。比如磁粉检测法要求对待检测材料通电后有一定的磁性。超声波检测法和渗透法可广泛的检测固体材料，包括金属、非金属、无磁性以及铁磁性材料。但是使用这几种方法均不能对表面有效的三维定量测量。如果可以进行表面上定量检测，将有助于分析出表面具体损伤情况，譬如，分析表面裂痕与表面划痕的区别。这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

发明内容

本发明提供一种新的无损检测方法，本发明的无损检测方法可通过在待测产品表面覆盖荧光剂层进行激发获得对应的荧光信号从而获得被测产品的表面形态信息，具体的本发明提供一种如下的基于荧光材料的无损检测方法：所述方法包括以下步骤:1)在待测产品表面覆盖荧光剂层；2)非平行激发光照射覆盖荧光剂层的所述待测产品表面；3)采集激发的荧光信号换算处理获得待测产品的表面信息。

进一步,所述激发光为激光。

进一步,所述非平行激发光通过激发光探头对准测试点进行激发。

进一步,所述方法还包括以下步骤:所述荧光信号与其对应测试点位置的换算关系设定。

进一步,采用以下方式进行所述换算关系的设定：恒定激发光功率，改变非平行激发光与已知距离位置测试点的相对距离，获取不同相对距离下的荧光信号，将所述不同相对距离下的荧光信号及其对应的相对距离进行数据拟合。

进一步，所述荧光信号为荧光寿命或不同波长的发光峰峰面积比。

进一步,所述非平行激发光通过以下方式获得：激发器发出激发光，所述激发光经由透镜获取所述非平行激发光。

进一步,将所述不同相对距离下的荧光信号及其对应的相对距离以以下函数的方式进行数据拟合:y＝k₀+k₁x+k₂x²…+k_ixⁱ；其中y为相对距离，x为荧光信号。

进一步，所述荧光剂为稀土族元素掺杂发光材料、过渡族金属元素掺杂发光材料、稀土族元素和过渡族金属元素共同掺杂发光材料、或半导体量子点中的一种或几种。

进一步，所述无损检测方法用于对固体内表面或外表面的三维定量检测。

与现有技术相比，本发明提供了一种新的基于利用荧光材料的产品无损检测方法，采用本发明的无损检测方法，特别是可以对固体内表面或外表面进行三维有效定量测量，将有助于分析出表面具体损伤情况，这将有助于提高产品检测的灵敏度，降低废品率。

附图说明

图1为本发明基于荧光材料的无损检测方法的一具体实施方式工艺流程示意图。

图2为本发明实施例1一铝板表面加工的沟槽结构的尺寸示意图；

图3为本发明实施1例荧光寿命与垂直距离之间关系的拟合曲线图；

图4为本发明实施例1利用荧光寿命与垂直距离之间关系的实际测量沟槽结构的测试结果图；