[发明专利]一种金刚石检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种金刚石的检测方法，其特征在于，包括：

将待检测样品置于预设区域中，利用第一波长的激发光照射所述待检测样品，所述待检测样品在所述激发光的照射下产生荧光信号；

在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场，获取所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中，所述待检测样品产生的荧光信号的强度值；

基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值，获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线；

判断所述光谱曲线中是否存在第二频率的波峰或波谷；

当所述光谱曲线中存在第二频率的波峰或波谷时，判定该待检测样品为金刚石；

其中，所述第一波长位于金刚石的NV色心的吸收光谱的波长范围内；所述第一频率段的端点频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第一预设数值范围内；所述第二频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第二预设数值范围内，所述第二预设数值小于所述第一预设数值。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述第一预设数值为50MHz；所述第二预设数值为10MHz。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场包括：

以预设频率间隔在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场。

4.根据权利要求1所述检测方法，其特征在于，所述多个频率的微波信号中相邻两个频率的微波信号之间具有预设时间间隔，且所述预设时间间隔内所述预设区域不存在微波场。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值及其对应的所述微波信号的频率，获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线包括：

基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值，获得各频率的微波信号的持续时间内，所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值；

建立所述微波信号的频率及其持续时间内所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值之间的关系，获得表征所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值及其对应的所述微波信号的频率之间关系的光谱曲线。

6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值，获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线之前还包括：重复M次下述步骤：

在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场，获取所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中，所述待检测样品的荧光信号的强度值；其中，M为大于或等于1的正整数。

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，判断所述光谱曲线中是否存在第二频率的波峰或波谷包括：

对所述光谱曲线进行归一化，获得归一化后的光谱曲线；

判断所述归一化后的光谱曲线中是否存在第二频率的波谷。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，该方法还包括：

给所述待检测样品所在位置施加一个均匀磁场；

判断所述光谱曲线中的波峰或波谷总数是否不小于1且不大于8；

当所述光谱曲线中的波峰或波谷总数不小于1且不大于8时，判断所述待检测样品为单晶金刚石。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，该方法还包括：

改变所述均匀磁场的方向和/或大小，重复权利要求8所述的检测方法。