[发明专利]一种金刚石检测方法及检测装置

说明书

本发明实施例公开了一种金刚石的检测方法及检测装置，该检测方法通过对金刚石样品中固有的氮‑空位发光点缺陷的光探测磁共振谱曲线来检测来确定该样品是否为金刚石样品，当所述光谱曲线中存在第二频率的波峰或波谷时，判定该待检测样品为金刚石，并通过其谱线在外磁场下的劈裂情况进一步确定该样品是否属于单晶样品，方法简单，耗时较短，检测装置成本低，且不会对金刚石本身产生损坏效果。而且，本发明实施例所提供的金刚石检测方法，对待检测样品的要求较少，不但可以用于常规的金刚石块样品的检测，还适用于超薄金刚石样品等使用其他方法不易检测的金刚石样品的检测。

技术领域

本发明涉及金刚石检测技术领域，尤其涉及一种金刚石检测方法及检测装置。

背景技术

金刚石俗称“金刚钻”，是我们常说的钻石的原身，因此，金刚石检测(如判断该金刚石是否为单晶)在与金刚石相关的珠宝、贸易、科研等对金刚石品质鉴定有强烈需求的行业有着至关重要的意义。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种金刚石检测方法及检测装置，以实现对金刚石的检测，且方法简单，耗时较短，成本较低。

为解决上述问题，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种金刚石的检测方法，包括：

将待检测样品置于预设区域中，利用第一波长的激发光照射所述待检测样品，所述待检测样品在所述激发光的照射下产生荧光信号；

在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场，获取所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中，所述待检测样品产生的荧光信号的强度值；

基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值，获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线；

判断所述光谱曲线中是否存在第二频率的波峰或波谷；

当所述光谱曲线中存在第二频率的波峰或波谷时，判定该待检测样品为金刚石；

其中，所述第一波长位于金刚石的NV色心的吸收光谱的波长范围内；所述第一频率段的端点频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第一预设数值范围内；所述第二频率与所述金刚石的NV色心产生的零场劈裂峰值频率之间的差值在第二预设数值范围内，所述第二预设数值小于所述第一预设数值。

可选的，所述第一预设数值为50MHz；所述第二预设数值为10MHz。

可选的，在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场包括：

以预设频率间隔在所述预设区域依次形成第一频率段范围内多个频率的微波信号的微波场。

可选的，所述多个频率的微波信号中相邻两个频率的微波信号之间具有预设时间间隔，且所述预设时间间隔所述预设区域不存在微波场。

可选的，基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值及其对应的所述微波信号的频率，获得所述待检测样品产生的荧光信号的强度值随所述微波信号的频率变化的光谱曲线包括：

基于在所述第一频率段范围内各频率的微波信号形成的微波场中所述待检测样品产生的荧光信号的强度值，获得各频率的微波信号的持续时间内，所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值；

建立所述微波信号的频率及其持续时间内所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值之间的关系，获得表征所述待检测样品产生的荧光信号的强度累计值及其对应的所述微波信号的频率之间关系的光谱曲线。