[发明专利]SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端

权利要求书

1.一种SDI芯片自动检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；

比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；

根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格；

其中，所述待测芯片库包括批量测试的多个待检测SDI芯片的信道数据；

所述标准值是通过对所述多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的，所述检测结果包括合格和不合格，并且，所述标准值还随着待检测SDI芯片的数据的数据量的增加而变化，所述待检测SDI芯片的数据包括其信道数据和合格与否；

所述信道数据和标准值选自如下维度：支持长度、帧率，其中，所述支持长度是指所述SDI芯片连接的电缆的最大长度。

2.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法，其特征在于，所述信道数据包括对所述待检测SDI芯片的多路图像输出检测结果，其中，所述多路图像输出检测结果包括各路图像输出的支持长度和帧率。

3.根据权利要求2所述的SDI芯片自动检测方法，其特征在于，所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。

4.根据权利要求2所述的SDI芯片自动检测方法，其特征在于，所述根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格包括：

当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片合格；

否则，确定所述待检测SDI芯片不合格。

5.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法，其特征在于，还包括：

在显示界面输出所述信道数据和所述待检测SDI芯片的检测结果。

6.根据权利要求1所述的SDI芯片自动检测方法，其特征在于，所述支持长度根据所述待检测SDI芯片的输出信号在示波器上的输出幅度确定。

7.一种SDI芯片自动检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；

比较模块，用于比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；

确定模块，用于根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格；

其中，所述待测芯片库包括批量测试的多个待检测SDI芯片的信道数据；

所述标准值是通过对所述多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的，所述检测结果包括合格和不合格，并且，所述标准值还随着待检测SDI芯片的数据的数据量的增加而变化，所述待检测SDI芯片的数据包括其信道数据和合格与否；

所述信道数据和标准值选自如下维度：支持长度、帧率，其中，所述支持长度是指所述SDI芯片连接的电缆的最大长度。

8.根据权利要求7所述的SDI芯片自动检测装置，其特征在于，所述信道数据包括对所述待检测SDI芯片的多路图像输出检测结果，其中，所述多路图像输出检测结果包括各路图像输出的支持长度和帧率。

9.根据权利要求8所述的SDI芯片自动检测装置，其特征在于，所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。

10.根据权利要求8所述的SDI芯片自动检测装置，其特征在于，所述确定模块包括：

第一确定子模块，当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片合格；或者

第二确定子模块，当所述多路图像输出检测结果中的任一路检测结果低于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片不合格。

11.根据权利要求7所述的SDI芯片自动检测装置，其特征在于，还包括：

显示模块，用于在显示界面输出所述信道数据和所述待检测SDI芯片的检测结果。