[发明专利]SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端

说明书

一种SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端，所述方法包括：获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。通过本发明提供的方案能够提高生产过程中对SDI芯片的筛片效率，节约时间成本。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，具体地涉及一种SDI芯片自动检测方法及装置、存储介质、终端。

背景技术

数字分量串行接口(Serial Digital Interface，简称SDI)是一种实时无压缩的高清广播级摄像机，是安防监控领域的又一科技进步。通过75欧姆同轴电缆来传输未压缩的数字视频，SDI芯片能够为监控中心提供高清晰的图像。

为了能够确保SDI芯片能够输出高质量的图像数据，对SDI芯片的合格率检测就显得尤为重要。

但是，在目前的出厂检测阶段，对SDI芯片的合格率检测不但耗时长而且效率低，不利于SDI芯片的批量生产。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何提高SDI芯片在生产过程中的筛片效率。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SDI芯片自动检测方法，包括：获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。

可选的，所述信道数据包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。

可选的，所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。

可选的，所述根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格包括：当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片合格；否则，确定所述待检测SDI芯片不合格。

可选的，所述标准值是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的。

可选的，所述SDI芯片自动检测方法还包括：在显示界面输出所述信道数据和检测结果。

可选的，所述信道数据和标准值选自如下维度：支持长度；帧率。

可选的，所述支持长度根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。

为解决上述技术问题，本发明实施例还提供一种SDI芯片自动检测装置，包括：获取模块，用于获取待检测SDI芯片的信道数据，所述信道数据预存于待测芯片库；比较模块，用于比较所述信道数据与标准值，所述标准值预存于预设标准数据库；确定模块，用于根据比较结果确定所述待检测SDI芯片是否合格。

可选的，所述信道数据包括对所述SDI芯片的多路图像输出检测结果。

可选的，所述多路图像输出检测结果为4路图像输出检测结果。

可选的，所述确定模块包括：第一确定子模块，当所述多路图像输出检测结果均高于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片合格；或者第二确定子模块，当所述多路图像输出检测结果中的任一路检测结果低于所述标准值时，确定所述待检测SDI芯片不合格。

可选的，所述标准值是通过对多个待检测SDI芯片在历史上预设时间段内的检测结果统计确定的。

可选的，所述SDI芯片自动检测装置还包括：显示模块，用于在显示界面输出所述信道数据和检测结果。

可选的，所述信道数据和标准值选自如下维度：支持长度；帧率。

可选的，所述支持长度根据所述待检测SDI芯片在示波器上的输出幅度确定。