[发明专利]LRA谐振频率的检测装置

权利要求书

1.一种LRA谐振频率的检测装置，其特征在于，包括驱动模块、电流采样模块、电流比较模块、阈值电流产生模块；

所述驱动模块用于向所述LRA依次发送不同驱动频率的驱动电压，并向所述电流采样模块发送驱动完成信号；

所述电流采样模块在接收所述驱动完成信号后，用于采样所述驱动模块的驱动电流并产生采样电流，将所述采样电流输出至所述电流比较模块的第一输入端；

所述电流比较模块的第二输入端连接所述阈值电流产生模块的输出端，所述阈值电流产生模块用于在所述电流比较模块中产生阈值电流；

所述电流比较模块的输出端连接所述驱动模块，用于比较所述采样电流与所述阈值电流，并向所述驱动模块发送反馈信号，若所述采样电流小于所述阈值电流时，则所述驱动模块确定所述LRA的当前驱动频率为谐振频率，且继续以所述谐振频率驱动所述LRA。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述驱动模块包括驱动单元、晶体管MP1、晶体管MP2、晶体管MN1及晶体管MN2；

所述晶体管MP1的栅极、所述晶体管MN1的栅极均接所述控制芯片的正向驱动端；所述晶体管MP2的栅极、所述晶体管MN2的栅极均接所述控制芯片的反向驱动端；所述晶体管MP1漏极与所述晶体管MN1漏极的公共连接点接所述LRA的一端；所述晶体管MP2漏极与所述晶体管MN2漏极的公共连接点接所述LRA远离所述晶体管MP1的一端；

所述晶体管MP1源极与所述晶体管MP2源极的公共连接点接所述电源电压；

所述晶体管MN1源极与所述晶体管MN2源极的公共连接点接地；

所述晶体管MP2漏极、所述晶体管MN2漏极与所述LRA的公共连接点接所述电流采样模块。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电流采样模块用于采样所述晶体管MP1、所述晶体管MP2、所述晶体管MN1、所述晶体管MN2中任一个晶体管中的驱动电流。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述电流采样模块包括运算放大器、晶体管M1、晶体管M2、晶体管M3；所述运算放大器的正相输入端接所述晶体管MP2漏极与所述晶体管MN2漏极的公共连接点；

所述运算放大器的反相输入端接所述晶体管M1漏极与所述晶体管M2源极的公共连接点，所述晶体管M1栅极接所述驱动单元的正向驱动端，所述晶体管M1源极接地；

所述运算放大器的输出端接所述晶体管M3的源极，所述晶体管M3的栅极接所述驱动单元的单次驱动完成端；所述晶体管M3的漏极接所述晶体管M2的栅极；所述晶体管M2的漏极连接所述电流比较模块。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述电流比较模块包括第一反相器、电阻R1、电阻R2、晶体管M4、晶体管M5、晶体管M6、晶体管M7、晶体管M8、晶体管M9；所述晶体管M2的漏极接所述电阻R2的一端与所述晶体管M8源极的公共连接点；

所述晶体管M8栅极、所述晶体管M7栅极及所述晶体管M7漏极的公共连接点接所述晶体管M5的漏极，所述晶体管M5的源极接所述晶体管M9的漏极，所述晶体管M6的源极接所述晶体管M4的漏极；

所述电阻R1一端接所述晶体管M7源极，另一端接电源电压；

所述电阻R2与所述晶体管M8源极的公共连接点接所述电流采样模块，所述电阻R2远离所述晶体管M8源极的一端接电源电压；

所述晶体管M9源极、所述晶体管M4源极的公共连接点接地；

所述晶体管M8漏极与所述晶体管M6漏极的公共连接点接所述第一反相器的输入端，所述第一反相器的输出端接所述驱动单元的反馈端；

所述晶体管M4栅极与所述晶体管M9栅极的公共连接点接所述阈值电流产生模块输出的第一偏置电压；

所述晶体管M5栅极与所述晶体管M6栅极的公共连接点接第二偏置电压。