[发明专利]回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201810335229.9 申请日: 2018-04-12
公开(公告)号: CN108536600A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 周海艳 申请(专利权)人: 平安普惠企业管理有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 回归测试 计算机可读存储介质 中心路径 测试 修复 漏洞 预设 测试可靠性 测试成本 测试效率 等级确定 生成测试 组合测试
【权利要求书】:

1.一种回归测试方法,其特征在于,所述回归测试方法包括以下步骤:

根据被修复的漏洞和预设测试强度等级,获取回归测试路径,其中,所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径,以及被修复的漏洞的周围路径,所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定;

根据所述中心路径和所述周围路径,采用组合测试,生成测试用例;

根据所述测试用例,按照所述回归测试路径进行回归测试。

2.如权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,根据被修复的漏洞和预设测试强度等级,获取回归测试路径的步骤包括:

计算所述周围路径与所述中心路径之间的相依度;

按照所述相依度由高至低的顺序,将所述周围路径纳入所述回归测试路径中,直至所述回归测试路径的测试强度等级等于所述预设测试强度等级。

3.如权利要求2所述的回归测试方法,其特征在于,所述周围路径包括第一周围路径和第二周围路径,所述第一周围路径与所述中心路径之间的相依度大于所述第二周围路径与所述中心路径之间的相依度;

所述根据所述中心路径和所述周围路径,采用组合测试,生成测试用例的步骤包括:

根据所述中心路径和所述第一周围路径,获取第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值;

根据所述第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值,建立第一测试用例;

根据所述中心路径和所述第二周围路径,获取第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值;

根据所述第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值,建立第二测试用例;

其中,所述第一测试参数对中心路径和第一周围路径的覆盖度大于所述第二测试参数对中心路径和第二周围路径的覆盖度。

4.如权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,根据所述中心路径和所述周围路径,采用组合测试,生成测试用例的步骤包括:

根据所述中心路径和所述周围路径,获取测试参数和所述测试参数对应的参数取值;

根据所述测试参数和所述测试参数对应的参数取值,按照两两组合方式或正交组合方式,建立所述测试用例。

5.如权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,根据所述测试用例,按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤包括:

根据所述测试用例,测试所述中心路径;

当所述中心路径未通过测试时,输出第一报错信号;

当所述中心路径通过测试时,按照所述周围路径与所述中心路径之间的相依度由高至低的顺序,依次测试所述周围路径;

当所述周围路径未通过测试时,输出第二报错信号。

6.如权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,在根据所述测试用例,按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤之后,所述回归测试方法还包括以下步骤:

当所述回归测试路径存在漏洞时,接收修复指令;

根据所述修复指令修复所述漏洞;

当所述修复指令有效时,对应存储所述漏洞和所述修复指令。

7.如权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,在根据所述测试用例,按照所述回归测试路径进行回归测试的步骤之后,所述回归测试方法还包括以下步骤:

当所述回归测试路径存在漏洞时,读取预存的与所述漏洞对应的修复指令;

根据所述修复指令修复所述漏洞。

8.一种回归测试设备,其特征在于,所述回归测试设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的回归测试方法的步骤。

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