[发明专利]回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种回归测试方法，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。本发明还公开了一种回归测试设备、回归测试装置和计算机可读存储介质。本发明在保障了测试可靠性的同时，提高了测试效率，降低了测试成本。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

在对程序或系统进行调试的过程中，修复漏洞后，需要进行回归测试，回归测试是指修改了旧代码后，重新进行测试以确认修改没有引入新的错误或导致其他代码产生错误，从而保障程序或系统的可靠性。通常，回归测试只针对漏洞本身。然而，对漏洞的修复还可能引入新的衍生漏洞，如果只对漏洞本身进行回归测试，很容易出现衍生漏洞导致程序或系统无法正常运行的情况。为了解决上述衍生漏洞带来的问题，在另一种回归测试方法中，修复漏洞后进行全功能测试，以提高程序或系统的可靠性。但是，这种全功能测试需要投入大量的资源，导致测试效率大幅降低，测试成本大幅升高。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种回归测试方法，旨在解决上述回归测试的可靠性差、效率低下的技术问题，以满足客户的需求。

为实现上述目的，本发明提供一种回归测试方法，所述回归测试方法包括以下步骤：

根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；

根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；

根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。

优选地，根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径的步骤包括：

计算所述周围路径与所述中心路径之间的相依度；

按照所述相依度由高至低的顺序，将所述周围路径纳入所述回归测试路径中，直至所述回归测试路径的测试强度等级等于所述预设测试强度等级。

优选地，所述周围路径包括第一周围路径和第二周围路径，所述第一周围路径与所述中心路径之间的相依度大于所述第二周围路径与所述中心路径之间的相依度；

所述根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：

根据所述中心路径和所述第一周围路径，获取第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值；

根据所述第一测试参数和所述第一测试参数对应的参数取值，建立第一测试用例；

根据所述中心路径和所述第二周围路径，获取第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值；

根据所述第二测试参数和所述第二测试参数对应的参数取值，建立第二测试用例；

其中，所述第一测试参数对中心路径和第一周围路径的覆盖度大于所述第二测试参数对中心路径和第二周围路径的覆盖度。

优选地，根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例的步骤包括：

根据所述中心路径和所述周围路径，获取测试参数和所述测试参数对应的参数取值；