[发明专利]陶瓷基片厚度检测装置

权利要求书

1.一种陶瓷基片厚度检测装置，包括设备平台（1），其特征在于：还包括用于承载待检测陶瓷基片的承载机构、用于执行待检测陶瓷基片厚度检测的检测机构、以及用于实现待检测陶瓷基片抓取搬运的搬运机构，所述承载机构、检测机构以及搬运机构均固定设置于所述设备平台上，所述承载机构包括上料工位台（2）、检测工位台（3）以及下料工位台，所述检测工位台（3）可活动地设置于所述设备平台（1）上，所述搬运机构与所述检测工位台（3）相配合、共同完成待检测陶瓷基片在所述上料工位台（2）与所述下料工位台之间的搬运。

2.根据权利要求1所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述设备平台（1）上固定设置有滑动座（6），所述检测工位台（3）固定设置于所述滑动座（6）上，所述检测工位台（3）借助所述滑动座（6）可活动地设置于所述设备平台（1）上。

3.根据权利要求2所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述上料工位台（2）及下料工位台均固定设置于所述设备平台（1）上，所述下料工位台包括合格品工位台（4）及残次品工位台（5），所述合格品工位台（4）与所述残次品工位台（5）之间的连线方向与所述滑动座（6）的活动方向相垂直。

4.根据权利要求1所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述上料工位台（2）以及所述下料工位台的底部均设置有抬升组件，所述抬升组件包括抬升气缸以及承托板（7），所述抬升气缸固定设置于所述设备平台（1）下方，所述承托板（7）与所述抬升气缸的气缸轴固定连接，所述承托板（7）的尺寸大小与待检测陶瓷基片的尺寸大小匹配对应。

5.根据权利要求2所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述搬运机构包括固定支架（8）、第一搬运组件以及第二搬运组件，所述第一搬运组件以及所述第二搬运组件均借助所述固定支架（8）可活动地设置于所述设备平台（1）上，所述第一搬运组件以及所述第二搬运组件之间的距离与所述滑动座（6）的活动行程相匹配。

6.根据权利要求5所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述第一搬运组件包括第一连接板（9）、第一活动基座（10）、以及第一抓取气缸（11），所述第一连接板（9）固定设置于所述固定支架（8）上，所述第一活动基座（10）可活动地设置于所述第一连接板（9）上，所述第一抓取气缸（11）与所述第一活动基座（10）固定连接，所述第一抓取气缸（11）的气缸轴顶端固定设置有第一抓取吸盘（12），所述上料工位台（2）位于所述第一抓取气缸（11）的活动路径上。

7.根据权利要求6所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述第二搬运组件包括第二连接板（13）、第二活动基座（14）、以及第二抓取气缸（15），所述第二连接板（13）固定设置于所述固定支架（8）上，所述第二活动基座（14）可活动地设置于所述第二连接板（13）上，所述第二抓取气缸（15）与所述第二活动基座（14）固定连接，所述第二抓取气缸（15）的气缸轴顶端固定设置有第二抓取吸盘（16），所述下料工位台位于所述第二抓取气缸（15）的活动路径上。

8.根据权利要求7所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述第一连接板（9）的设置方向与所述第二连接板（13）的设置方向相平行，所述第一连接板（9）的设置方向与所述第二连接板（13）的设置方向均与所述滑动座（6）的活动方向相垂直。

9.根据权利要求6所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：所述检测机构包括激光检测笔（17）与数值显示器（18），所述激光检测笔（17）与所述数值显示器（18）电性连接，所述激光检测笔（17）固定设置于所述第一抓取气缸（11）的一侧，所述数值显示器（18）固定设置于所述固定支架（8）上。

10.根据权利要求1所述的陶瓷基片厚度检测装置，其特征在于：还包括固定设置于所述设备平台（1）上、用于控制各部件运作的控制器，所述承载机构、检测机构以及所述搬运机构均与所述控制器电性连接并由其控制驱动。