[发明专利]一种高度规在审
申请号: | 201810336478.X | 申请日: | 2018-04-12 |
公开(公告)号: | CN108759740A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 许少鹏;吴昊;刘旭忠;安娜;罗宗玮;郭宝磊;马晓;次刚;宫心峰;徐斌;罗振华;张铮;管清竹;苏伟 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/08 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张京波;曲鹏 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导轨 高度规 连接杆 检测探针 交叉设置 滑动 转动 测量 场景 | ||
1.一种高度规,包括机架、设置在机架上的导轨以及与所述导轨交叉设置的第一连接杆,所述第一连接杆可沿所述导轨滑动,其特征在于,所述第一连接杆上设有可相对所述导轨转动的检测探针。
2.根据权利要求1所述的高度规,其特征在于,所述检测探针可沿所述第一连接杆滑动。
3.根据权利要求2所述的高度规,其特征在于,还包括第一位移传感器,所述第一位移传感器用于检测所述检测探针在所述第一连接杆上的滑动距离。
4.根据权利要求1所述的高度规,其特征在于,所述第一连接杆可围绕所述导轨转动。
5.根据权利要求1-4任一所述的高度规,其特征在于,所述第一连接杆上交叉设置有第二连接杆,所述第二连接杆上设有滑孔,所述滑孔可沿所述第一连接杆滑动,所述第二连接杆上设有所述检测探针,所述第二连接杆可相对所述导轨转动,以带动所述检测探针相对所述导轨转动。
6.根据权利要求5所述的高度规,其特征在于,所述检测探针可沿所述第二连接杆滑动。
7.根据权利要求6所述的高度规,其特征在于,还包括第二位移传感器,所述第二位移传感器用于检测所述检测探针在所述第二连接杆上的滑动距离。
8.根据权利要求5所述的高度规,其特征在于,所述第二连接杆上设有两个连接端,每个连接端均设有所述检测探针。
9.根据权利要求5所述的高度规,其特征在于,所述第二连接杆上设有转动连接件,所述转动连接件为所述滑孔,所述滑孔套设在所述第一连接杆上,所述第二连接杆通过所述滑孔以所述第一连接杆为轴转动,以带动所述检测探针相对所述导轨转动。
10.根据权利要求5所述的高度规,其特征在于,所述第二连接杆上设有连接件,所述第二连接杆通过所述连接件与所述第一连接杆连接,所述连接件包括互相连接的滑动块和转动轴,所述滑动块上设有贯穿孔,所述贯穿孔套设在所述第一连接杆上,并可沿所述第一连接杆滑动,所述转动轴与所述贯穿孔的朝向垂直,所述转动轴与所述第二连接杆转动连接。
11.根据权利要求1-4任一所述的高度规,其特征在于,所述导轨上设有转动连接件,所述转动连接件包括本体以及设置在本体上的转动部和滑动部,所述滑动部可沿所述导轨滑动,所述转动部与所述导轨垂直,所述转动部与所述第一连接杆转动连接,所述第一连接杆通过在所述转动部上的自转,带动所述检测探针相对所述导轨转动。
12.根据权利要求1-4任一所述的高度规,其特征在于,所述检测探针上连接有压力传感器,所述压力传感器用于检测所述检测探针与待测量物体的接触压力。
13.根据权利要求1-4任一所述的高度规,其特征在于,还包括第三位移传感器,所述第三位移传感器用于检测所述第一连接杆在所述导轨上的滑动距离。
14.根据权利要求1-4任一所述的高度规,其特征在于,所述第一连接杆上设有用于调节所述第一连接杆在所述导轨上的滑动距离的粗调旋钮和微调旋钮。
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