[发明专利]一种高度规在审
申请号: | 201810336478.X | 申请日: | 2018-04-12 |
公开(公告)号: | CN108759740A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 许少鹏;吴昊;刘旭忠;安娜;罗宗玮;郭宝磊;马晓;次刚;宫心峰;徐斌;罗振华;张铮;管清竹;苏伟 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/08 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张京波;曲鹏 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导轨 高度规 连接杆 检测探针 交叉设置 滑动 转动 测量 场景 | ||
本发明公开了一种高度规,包括机架、设置在机架上的导轨以及与所述导轨交叉设置的第一连接杆,所述第一连接杆可沿所述导轨滑动,所述第一连接杆上设有可相对所述导轨转动的检测探针;该高度规能够适用于多种场景的测量。
技术领域
本发明涉及测量技术领域,尤指一种高度规。
背景技术
现有技术中,高度规包括支架、导轨以及设置在导轨上的检测探针,检测探针通过在导轨上的滑动,来测量待测量物体。该检测方式由于无法改变检测探针的测量角度,不能适用于多种场景的测量,例如测量角度、测量不同物体的形状等。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种高度规,该高度规能够适用于多种场景的测量。
为了达到本发明目的,本发明采用如下技术方案:
一种高度规,包括机架、设置在机架上的导轨以及与所述导轨交叉设置的第一连接杆,所述第一连接杆可沿所述导轨滑动,所述第一连接杆上设有可相对所述导轨转动的检测探针。
可选地,所述检测探针可沿所述第一连接杆滑动。
可选地,还包括第一位移传感器,所述第一位移传感器用于检测所述检测探针在所述第一连接杆上的滑动距离。
可选地,所述第一连接杆可围绕所述导轨转动。
可选地,所述第一连接杆上交叉设置有第二连接杆,所述第二连接杆上设有滑孔,所述滑孔可沿所述第一连接杆滑动,所述第二连接杆上设有所述检测探针,所述第二连接杆可相对所述导轨转动,以带动所述检测探针相对所述导轨转动。
可选地,所述检测探针可沿所述第二连接杆滑动。
可选地,还包括第二位移传感器,所述第二位移传感器用于检测所述检测探针在所述第二连接杆上的滑动距离。
可选地,所述第二连接杆上设有两个连接端,每个连接端均设有所述检测探针。
可选地,所述第二连接杆上设有转动连接件,所述转动连接件为所述滑孔,所述滑孔套设在所述第一连接杆上,所述第二连接杆通过所述滑孔以所述第一连接杆为轴转动,以带动所述检测探针相对所述导轨转动。
可选地,所述第二连接杆上设有连接件,所述第二连接杆通过所述连接件与所述第一连接杆连接,所述连接件包括互相连接的滑动块和转动轴,所述滑动块上设有贯穿孔,所述贯穿孔套设在所述第一连接杆上,并可沿所述第一连接杆滑动,所述转动轴与所述贯穿孔的朝向垂直,所述转动轴与所述第二连接杆转动连接。
可选地,所述导轨上设有转动连接件,所述转动连接件包括本体以及设置在本体上的转动部和滑动部,所述滑动部可沿所述导轨滑动,所述转动部与所述导轨垂直,所述转动部与所述第一连接杆转动连接,所述第一连接杆通过在所述转动部上的自转,带动所述检测探针相对所述导轨转动。
可选地,所述检测探针上连接有压力传感器,所述压力传感器用于检测所述检测探针与待测量物体的接触压力。
可选地,还包括第三位移传感器,所述第三位移传感器用于检测所述第一连接杆在所述导轨上的滑动距离。
可选地,所述第一连接杆上设有用于调节所述第一连接杆在所述导轨上的滑动距离的粗调旋钮和微调旋钮。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明中的检测探针能够多自由度的移动,包括但不限于检测探针相对导轨转动,即围绕X轴转动;本发明中检测探针多自由度的移动,能够适应不同测量场景,例如测量角度或测量不同物体形状等场景。
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