[发明专利]一种提升显示面板质量的方法及系统有效
申请号: | 201810338400.1 | 申请日: | 2018-04-16 |
公开(公告)号: | CN108573683B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 花华妹;郑增强 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G11C19/28 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 魏波 |
地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提升 显示 面板 质量 方法 系统 | ||
1.一种提升显示面板质量的方法,其特征在于,包括以下获取CODE初值的步骤:
步骤1:将大玻璃基板样板划分为m*n块区域,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn,其中,i、j、m、n均为大于0的正整数;
步骤2:对该大玻璃基板样板进行切割,获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板;
步骤3:分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据;
步骤4:将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定,作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
2.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤:对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定,分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz;并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。
3.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,还包括以下步骤:
依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn;
分别将ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值设定为对应的显示面板的CODE初值。
4.根据权利要求3所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,分别对该m*n块显示面板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得一组与该m*n块显示面板一一对应的第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据;
将该组第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定,作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。
5.一种提升显示面板质量的方法,其特征在于,包括以下获取CODE初值的步骤:
步骤1:将大玻璃基板样板划分为m*n块区域,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn,其中,i、j、m、n均为大于0的正整数;
步骤2:对N块大玻璃基板样板进行切割,获得N组m*n块显示面板样板;
步骤3:获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息,并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据;
步骤4:将该N组m*n块显示面板样板的特征信息作为输入值,将该N组m*n块显示面板样板的gamma寄存器值、和/或Mura修复数据作为输出值,进行分类训练操作获得ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值模型。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810338400.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。