[发明专利]一种提升显示面板质量的方法及系统

说明书

本发明公开了一种提升显示面板质量的方法及系统，通过ID标定，测量各个区域块的亮度/色度/Mura数据，对各区域块的数据进行深度学习，得到一组ID对应的初始CODE值，使得显示面板呈现的亮度/色度/均匀性更加，通过在线管理系统进行绑定记录，在该产线的后续生成中，根据ID编号，直接赋予切割后的显示面板CODE初值，从而减少后段Gamma/Demua的调节时间，提高产线TT，提高产能，降低成本。

技术领域

本发明属于显示检测技术领域，涉及一种提升显示面板质量的方法及系统，应用于OLED(Organic Light-Emitting Diode Display)、LCD(Liquid Crystal Display)等新型显示面板中，能够快速提升产能和质量等级。

背景技术

OLED、LCD等新型显示面板具有高分辨率、高灰度以及无几何变形等优点，其制造工艺复杂，主要包括ARRAY(阵列)、CELL(面板成型)和MODULE(模组构装)三大工序，且每一个大工序中又包含十几至几十个小工序，而且随着平面显示器的尺寸越做越大，其灰度的均匀性也越来越难控制，因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷。另一方面，OLED、LCD等新型显示面板是由大玻璃基板切割而成，而大玻璃基板因制造设备及制造工艺等原因在不同区域块呈现的质量不同，一般在面板的中间呈现的质量较好，在周边区域呈现的质量较差；同一批次(或产线)生产的大玻璃基板所呈现的质量分布情况基本相同，即各个大玻璃基板对应的各区域块所呈现的质量情况基本一致。大玻璃基板在ARRAY、CELL工序中因使用的工艺设备如曝光机、蒸镀机、切割机等不同，质量也不同，可以对不同区域块及使用到的工艺设备进行标定，由在线系统进行记录，后段可通过在线系统查看相应的制造设备及切分块等信息。

现有工艺中不对任何的显示面板来源进行标定，不可预测显示面板来源于哪一部分，在工序后段Gamma(显示器的响应曲线，即亮度与输入电压的非线性关系)调节、Mura缺陷修复时只能使用统一的CODE(点亮显示模组需要的一组特殊的寄存器值)初值，使得显示面板呈现的亮度和色度较差，增加Gamma调节及Mura缺陷修复时间，同时调节后的效果较差。

发明内容

针对上述现有技术的不足，本发明公开一种提升显示面板质量的方法及系统，通过对大玻璃基板的各区域块进行标定，以及将各区域块显示面板的CODE值作为大玻璃基板各区域块的CODE初值，使得大玻璃基板不同区域块采用不同的CODE初值，从而使得所有的显示面板都能呈现较佳亮度和色度，进而可以减少产线的Gamma调节及Mura缺陷修复时间，提高产线的生产节拍时间和产能。

本发明提供了一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：

步骤1：将大玻璃基板样板划分为m*n块区域，分别标定为ID₁₁、ID₁₂、…、ID_ij、…、ID_mn，其中，i、j、m、n均为大于0的正整数；

步骤2：对该大玻璃基板样板进行切割，获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板；

步骤3：分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作，获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据；

步骤4：将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID₁₁、ID₁₂、…、ID_ij、…、ID_mn进行绑定，作为ID₁₁、ID₁₂、…、ID_ij、…、ID_mn的CODE初值。

本发明还提供了一种提升显示面板质量的方法，其特征在于，包括以下获取CODE初值的步骤：