[发明专利]液晶屏测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201810351560.X 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108845438A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 陈文源;殷建东;周恺俊;王玉成;吴勇 申请(专利权)人: 苏州华兴源创电子科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张雪梅
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 脚本文件 液晶屏 测试模块 测试单元 测试装置 上位机 测试 测试设备 测试图像 测试应用 文本格式 更新 烧写 响应 维护
【权利要求书】:

1.一种液晶屏测试装置,其特征在于,包括上位机和至少一个显示测试单元,所述显示测试单元包括测试模块;

所述上位机,用于响应于用户的输入,生成初始或更新后的文本格式的脚本文件,并将脚本文件烧写进测试模块中的第一FLASH芯片;

所述测试模块,用于根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,并将测试结果存入第一FLASH芯片。

2.根据权利要求1所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述显示测试单元还包括显示模块和接口模块;

所述上位机,还用于响应于用户的输入,生成初始或更新后的测试图像,并将测试图像烧写进显示模块中的第二FLASH芯片;

所述接口模块,用于连接测试模块与待测液晶屏,并连接显示模块与待测液晶屏;

所述显示模块,用于根据测试模块执行测试所发送的图像切换指令,依次将第二FLASH芯片中的测试图像输入待测液晶屏并接收待测液晶屏返回的显示信息。

3.根据权利要求2所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述测试模块包括第一微控制器、电源模块、AD采样芯片和ATMEL芯片;

所述第一微控制器,用于根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,分别向所述电源模块、AD采样芯片、ATMEL芯片和显示模块发送供电指令、采样指令、触控检测指令和图像切换指令;

所述电源模块,用于根据供电指令,为待测液晶屏供电;

所述AD采样芯片,用于根据采样指令,采集待测液晶屏的电压电流信息;

所述ATMEL芯片,用于根据触控检测指令,检测待测液晶屏的触控功能,生成触控检测结果;

所述第一微控制器,还用于将待测液晶屏的电压电流信息、触控检测结果和显示信息作为测试结果存入第一FLASH芯片。

4.根据权利要求3所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述测试模块还包括温湿度传感器;

所述第一微控制器,还用于向所述温湿度传感器发送感测指令;

所述温湿度传感器,用于根据感测指令感测测试过程中的环境温湿度;

所述第一微控制器,还用于将测试过程中的环境温湿度作为测试结果存入第一FLASH芯片。

5.根据权利要求3或4所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述测试模块还包括显示屏,所述第一微控制器将测试结果发送至显示屏和/或上位机。

6.根据权利要求2所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述显示模块包括第二微控制器和FPGA芯片;

所述第二微控制器,用于根据测试模块执行测试所发送的图像切换指令,依次将第二FLASH芯片中的测试图像通过FPGA芯片输入待测液晶屏并接收待测液晶屏返回的显示信息。

7.根据权利要求1所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述文本格式的脚本文件为TXT格式的脚本文件。

8.根据权利要求1所述的液晶屏测试装置,其特征在于,所述上位机与所述测试模块通过网线和串口线连接。

9.一种液晶屏测试方法,其特征在于,包括:

响应于用户的输入,生成初始或更新后的文本格式的脚本文件,并将脚本文件烧写进第一FLASH芯片;

根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,并将测试结果存入第一FLASH芯片。

10.根据权利要求9所述的液晶屏测试方法,其特征在于,该方法还包括:

响应于用户的输入,生成初始或更新后文本格式的测试图像,并将测试图像烧写进第二FLASH芯片。

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