[发明专利]液晶屏测试装置及方法在审
申请号: | 201810351560.X | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108845438A | 公开(公告)日: | 2018-11-20 |
发明(设计)人: | 陈文源;殷建东;周恺俊;王玉成;吴勇 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创电子科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张雪梅 |
地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 脚本文件 液晶屏 测试模块 测试单元 测试装置 上位机 测试 测试设备 测试图像 测试应用 文本格式 更新 烧写 响应 维护 | ||
本发明公开一种液晶屏测试装置及方法,该装置包括上位机和至少一个显示测试单元,显示测试单元包括测试模块;上位机,用于响应于用户的输入,生成初始或更新后的文本格式的脚本文件,并将脚本文件烧写进测试模块中的第一FLASH芯片;测试模块,用于根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,并将测试结果存入第一FLASH芯片。本发明可实现对液晶屏测试应用到的测试图像和脚本文件方便快捷地修改更新,增加了液晶屏测试的灵活性和通用性,便于测试设备的维护。
技术领域
本发明涉及测试领域。更具体地,涉及一种液晶屏测试装置及方法。
背景技术
目前,电子产品,特别是智能手机的功能日新月异,换代速度也逐年加快,对于液晶屏研发的需求也日益提升。对于液晶屏的测试主要是指信赖性测试,这是液晶屏质量的有力保障。在信赖性测试中,开发厂商会根据测试数据不断更改测试流程和测试参数,而频繁的更改测试工艺参数对设备供应商的售后服务的及时性提出了更高要求,一方面设备供应商的售后人员可能不具备更改设备的底层参数和测试流程,另一方面生产厂商出于新产品保密性的考虑也不会将新产品提供给设备供应商工程师开发调试。
目前测试设备都是预知被测液晶屏的各项测试要求,然后编写对应的固件代码往硬件中烧写入Firmware程序。这种方案只能针对某一种液晶屏测试,灵活性和通用性比较差。随着液晶屏的更新换代越来越频繁,针对各种型号的液晶屏的测试内容并不完全相同,这就导致后续维护非常的繁复,维护成本高,需要不断修改程序并去现场升级设备。
因此,需要提供一种灵活性高、通用性高的液晶屏测试装置及方法。
发明内容
针对现有技术灵活性和通用性较差、后续维护费力等问题,本发明提供一种液晶屏测试装置及方法。
为达到上述目的,本发明采用下述技术方案:
本发明第一方面提供了一种液晶屏测试装置,包括上位机和至少一个显示测试单元,所述显示测试单元包括测试模块;
所述上位机,用于响应于用户的输入,生成初始或更新后的文本格式的脚本文件,并将脚本文件烧写进测试模块中的第一FLASH芯片;
所述测试模块,用于根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,并将测试结果存入第一FLASH芯片。
优选地,所述显示测试单元还包括显示模块和接口模块;
所述上位机,还用于响应于用户的输入,生成初始或更新后的测试图像,并将测试图像烧写进显示模块中的第二FLASH芯片;
所述接口模块,用于连接测试模块与待测液晶屏,并连接显示模块与待测液晶屏;
所述显示模块,用于根据测试模块执行测试所发送的图像切换指令,依次将第二FLASH芯片中的测试图像输入待测液晶屏并接收待测液晶屏返回的显示信息。
优选地,所述测试模块包括第一微控制器、电源模块、AD采样芯片和ATMEL芯片;
所述第一微控制器,用于根据第一FLASH芯片中的脚本文件执行测试,分别向所述电源模块、AD采样芯片、ATMEL芯片和显示模块发送供电指令、采样指令、触控检测指令和图像切换指令;
所述电源模块,用于根据供电指令,为待测液晶屏供电;
所述AD采样芯片,用于根据采样指令,采集待测液晶屏的电压电流信息;
所述ATMEL芯片,用于根据触控检测指令,检测待测液晶屏的触控功能,生成触控检测结果;
所述第一微控制器,还用于将待测液晶屏的电压电流信息、触控检测结果和显示信息作为测试结果存入第一FLASH芯片。
优选地,所述测试模块还包括温湿度传感器;
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