[发明专利]量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质

权利要求书

1.一种量子产率计算方法，使激励光入射到在内部形成有用于配置样品的测定位置的积分球内，基于通过检测从所述积分球内射出的光所获得的谱来计算量子产率，该量子产率计算方法的特征在于，包括以下步骤：

空白测定步骤，基于通过在所述测定位置处不存在样品的空白测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算向所述积分球内入射的激励光的光子数来作为第一光子数，并且计算与激励光的波长范围不同的特定波长范围的光的光子数来作为所述空白测定状态下的所述积分球的背景光子数即第二光子数；

样品测定步骤，基于通过在所述测定位置处存在样品的样品测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算未被样品吸收的激励光的光子数来作为第三光子数，并且计算所述特定波长范围的光的光子数来作为第四光子数；

校正步骤，基于所述第一光子数和所述第三光子数来校正所述第二光子数，从而以高精度计算出第五光子数；以及

量子产率计算步骤，基于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数计算量子产率。

2.根据权利要求1所述的量子产率计算方法，其特征在于，

在所述量子产率计算步骤中，基于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数，计算从所述样品产生的光的光子数相对于向所述积分球内入射的激励光的光子数的比来作为外部量子产率。

3.根据权利要求1所述的量子产率计算方法，其特征在于，

在所述量子产率计算步骤中，基于所述第一光子数、所述第三光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数，计算从所述样品产生的光的光子数相对于被所述样品吸收的激励光的光子数的比来作为内部量子产率。

4.根据权利要求1所述的量子产率计算方法，其特征在于，

在所述空白测定步骤中，基于在所述积分球的出射口与用于检测从所述积分球内射出的光的光检测部之间的光路上设置有使激励光的波长范围的透射率降低的光学滤波器的状态和在光路上没有设置所述光学滤波器的状态下分别获得的谱，来计算所述第二光子数和所述第一光子数，

在所述样品测定步骤中，基于在光路上设置有所述光学滤波器的状态和在光路上没有设置所述光学滤波器的状态下分别获得的谱，来计算所述第四光子数和所述第三光子数。

5.一种荧光分光光度计，使激励光入射到在内部形成有用于配置样品的测定位置的积分球内，通过检测从所述积分球内射出的光来获取谱，该荧光分光光度计的特征在于，具备：

空白测定处理部，其基于通过在所述测定位置处不存在样品的空白测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算向所述积分球内入射的激励光的光子数来作为第一光子数，并且计算与激励光的波长范围不同的特定波长范围的光的光子数来作为所述空白测定状态下的所述积分球的背景光子数即第二光子数；

样品测定处理部，其基于通过在所述测定位置处存在样品的样品测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算未被样品吸收的激励光的光子数来作为第三光子数，并且计算所述特定波长范围的光的光子数来作为第四光子数；

校正处理部，其基于所述第一光子数和所述第三光子数来校正所述第二光子数，从而以高精度计算出第五光子数；以及

量子产率计算处理部，其基于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数计算量子产率。

6.根据权利要求5所述的荧光分光光度计，其特征在于，

所述量子产率计算处理部基于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数，计算从所述样品产生的光的光子数相对于向所述积分球内入射的激励光的光子数的比来作为外部量子产率。

7.根据权利要求5所述的荧光分光光度计，其特征在于，

所述量子产率计算处理部基于所述第一光子数、所述第三光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数，计算从所述样品产生的光的光子数相对于被所述样品吸收的激励光的光子数的比来作为内部量子产率。