[发明专利]量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质

说明书

提供一种量子产率计算方法、荧光分光光度计以及存储介质，能够高精度地计算量子产率。在利用荧光分光光度计来计算量子产率时，校正处理部进行基于光子数(A1)和光子数(B1)来校正光子数(A2)的处理，光子数(A1)是空白测定状态下的激励光的光子数，光子数(B1)是样品测定状态下的激励光的光子数，光子数(A2)是空白测定状态下的荧光的光子数。因此，能够校正光子数(A2)来高精度地计算校正后背景光子数(A2′)。另外，量子产率计算处理部除了基于空白测定状态下的激励光的光子数(A1)和样品测定状态下的荧光的光子数(B2)以外，还基于校正后背景光子数(A2′)计算量子产率。因此，能够高精度地计算量子产率。

技术领域

本发明涉及如下一种荧光分光光度计：使激励光入射到在内部形成有用 于配置样品的测定位置的积分球内，通过检测从积分球内射出的光来获取 谱。另外，本发明涉及一种基于该谱来计算量子产率的量子产率计算方法以 及量子产率计算程序。

背景技术

一直以来，进行着对具有特定的波长成分的光进行反应来实现目标的功 能那样的光反应分子的研究。

光反应分子通常为在能量上稳定的基态，当被照射具有特定的波长成分 的激励光时，吸收其光能而成为激励状态。而且，光反应分子通过发出荧光 或者磷光而恢复为原来的稳定的基态。此时，例如所发出的光的光子数相对 于照射或者吸收的光的光子数的比被表示为量子产率。

例如通过利用设置有积分球的荧光分光光度计来计算这种量子产率(例 如，参照下述专利文献1)。

具体地说，在利用荧光分光光度计来计算量子产率的情况下，首先，在 积分球内的测定位置处不存在样品的状态下使激励光入射到积分球内。然 后，通过检测从积分球内射出的光来制作谱。接着，在积分球内的测定位置 设置有样品的状态下同样地制作谱。然后，基于这些谱计算在无样品状态和 有样品状态这两种状态下从积分球射出的光的光子数。另外，基于这些光子 数来计算量子产率。

专利文献1：日本特开2016-151426号公报

发明内容

发明要解决的问题

在上述以往的方法中，有时产生所计算的量子产率的精度降低这样的缺 陷。

具体地说，在上述以往的方法中，有时在从积分球射出的光中包含通过 照射到积分球的内壁而发出的荧光等所谓的背景成分(杂散光成分)。因此， 有时由于该背景成分而导致量子产率的精度降低。另外，即使在计算出背景 成分之后计算量子产率的情况下，只要背景成分的计算的精度降低，量子产 率的精度就降低。

本发明是鉴于上述实际情况而完成的，其目的在于提供一种能够高精度 地计算量子产率的量子产率计算方法、荧光分光光度计以及量子产率计算程 序。

用于解决问题的方案

(1)本发明所涉及的量子产率计算方法使激励光入射到在内部形成有用 于配置样品的测定位置的积分球内，基于通过检测从所述积分球内射出的光 所获得的谱来计算量子产率。所述量子产率计算方法包括空白测定步骤、样 品测定步骤、校正步骤以及量子产率计算步骤。在所述空白测定步骤中，基 于通过在所述测定位置处不存在样品或者仅设置有装有溶剂的腔室或试样 蒸镀前的基材的空白测定状态下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱， 计算向所述积分球内入射的激励光的光子数来作为第一光子数，并且计算与 激励光的波长范围不同的特定波长范围的光的光子数来作为第二光子数。在 所述样品测定步骤中，基于通过在所述测定位置处存在样品的样品测定状态 下使激励光入射到所述积分球内所获得的谱，计算未被样品吸收的激励光的 光子数来作为第三光子数，并且计算所述特定波长范围的光的光子数来作为 第四光子数。在所述校正步骤中，通过基于所述第一光子数和所述第三光子 数校正所述第二光子数来计算第五光子数。在所述量子产率计算步骤中，基 于所述第一光子数、所述第四光子数以及所述第五光子数计算量子产率。