[发明专利]激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810357951.2 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN108931497B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 李智勇;黄军平;李相博;张小军;惠麒冰;张建伍;王朴;张小磊;杨君侠;李志明 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 刘鑫;沈金辉
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 激光 聚焦 三维 烃源岩 进行 评价 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法,其包括以下步骤:

选取具有区域代表性的烃源岩样品;

将烃源岩样品磨制成激光共聚焦片;

利用激光共聚焦显微镜于激光扫描模式下对激光共聚焦片进行光学切片获得多层激光切片体;

利用莱卡三维重构软件对多层激光切片体进行纳米级三维空间建模;

根据建立的模型对有机质的单体形态、组合形态、空间占比及分布特征进行数据体分析和规律统计获取烃源岩内有机质体积百分比含量,从而得出烃源岩样品中的有机质含量;

对有机质含量进行地质规律分析或相关性分析,评价烃源岩的类型与优劣;

对有机质含量进行地质规律分析或相关性分析,评价烃源岩的类型与优劣的方法为:

对数据体分析的有机质含量进行单井或平面投点,根据地质背景信息判定数据结果是否符合地质规律,或者与地化分析的样品点进行相关性分析,从而验证数据的合理性,进而通过评价获取具有针对性的烃源岩的形态及对应的有机质含量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,选取具有区域代表性的烃源岩样品的标准为:

通过颜色深浅判断烃源岩的有机质丰度,颜色越黑,有机质含量越高,以此标准选取有区域代表性的烃源岩样品。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将烃源岩样品磨制成激光共聚焦片的方法为:

将烃源岩样品磨制成厚度为1mm,面积为3cm×(2-3)cm的薄片。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用激光共聚焦显微镜于激光扫描模式下对激光共聚焦片进行光学切片获得多层激光切片体的方法为:

以步长为1.33μm,分辨率在100hz或400hz的条件下进行光片扫描,得到步数在100-300,体积在150-500μm3的多层激光切片体。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用莱卡三维重构软件对多层激光切片体进行纳米级三维空间建模的步骤为:

步骤一,将制好的目标体多层激光切片体放入载物台,选择激光立体光片扫描模式;

步骤二,通过调整Z轴,将光片中目标体调整到激光反射最强状态,此时目标体边界形态最明显,记录此时Z轴位置;

步骤三,分别将Z轴向上或向下进行移动,在目标体范围逐渐缩小至消失时,分别记录Z轴位置,保存结果,此时得到lif文件;

步骤四,首先点击“view”、在“project”中选择要处理的三维数据体,然后点击“3D”按钮,进入三维重构模式;

步骤五,分别勾选“draw frame”、“Axis”、“Scale Bar”,得到初步的三维立体显示图像;

步骤六,分别调整“opacity”、“minimum”、“maximum”、“gamma”的参数值,使目标体形态清晰、完整,获得构建的模型。

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