[发明专利]激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法和装置

说明书

本发明提供了一种激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法和装置。方法包括：选取具有区域代表性的烃源岩样品；将烃源岩样品磨制成激光共聚焦片；利用激光共聚焦显微镜于激光扫描模式下对激光共聚焦片进行光学切片获得多层激光切片体；利用莱卡三维重构软件对多层激光切片体进行纳米级三维空间建模；根据建立的模型对有机质的单体形态、组合形态、空间占比及分布特征进行数据体分析和规律统计获取烃源岩内有机质体积百分比含量，从而得出烃源岩样品中的有机质含量；对有机质含量进行地质规律分析或相关性分析，评价烃源岩的类型与优劣。该方法能够较好的反应烃源岩内有机质含量及可溶烃与热解烃的含量，对烃源岩的性质评价具有重要参考价值。

技术领域

本发明属于有机地球化学技术领域，涉及一种激光共聚焦三维重构激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法和装置。

背景技术

激光共聚焦三维重构技术在地质学上早已广泛应用，其在油气包裹体分析、储层孔喉特征分析、微体古生物学研究及油气在储层中的分布特征研究等方面均发挥了重要作用。然而，对烃源岩详细的室内分析手段，目前主要是地球化学分析，通过一系列化学处理，得出有机质丰度、有机质类型、有机质成熟度等参数。

目前，以激光共聚焦三维重构法对烃源岩内的有机质进行三维重构，根据空间形态定性分类，并进一步定量计算其内包含的有机质百分含量，与实际地球化学分析数据进行相关性分析与对比，得出不用化学方法就可以计算烃源岩内有机质体积百分比含量的方法，目前还没有涉及。

发明内容

基于现有技术中化学方法计算烃源岩内有机质含量的缺陷，本发明的目的在于提供一种激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法；本发明的目的还在于提供一种激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的装置。通过采用激光共聚焦三维重构法不但可以建立烃源岩中有机质的三维空间分布形态，反映其组成类型及特征，也可以定量计算页岩中有机质含量，以便部分储层实验室在没有地化实验设备情况下，利用激光共聚焦显微镜来初步评价烃源岩的类型与优劣，进而有针对性的选取不同类型的烃源岩，送往地化实验室进行详细的地化分析。

本发明的目的通过以下技术方案得以实现：

一方面，本发明提供一种激光共聚焦三维重构对烃源岩进行评价的方法，其包括以下步骤：

选取具有区域代表性的烃源岩样品；

将烃源岩样品磨制成激光共聚焦片；

利用激光共聚焦显微镜于激光扫描模式下对激光共聚焦片进行光学切片获得多层激光切片体；

利用莱卡三维重构软件对多层激光切片体进行纳米级三维空间建模；

根据建立的模型对有机质的单体形态、组合形态、空间占比及分布特征进行数据体分析和规律统计获取烃源岩内有机质体积百分比含量，从而得出烃源岩样品中的有机质含量；

对有机质含量进行地质规律分析或相关性分析，评价烃源岩的类型与优劣。

上述的方法中，优选地，选取具有区域代表性的烃源岩样品的标准为：

通过颜色深浅判断烃源岩的有机质丰度，颜色越黑，有机质含量越高，以此标准选取有区域代表性的烃源岩样品。

上述的方法中，优选地，将烃源岩样品磨制成激光共聚焦片的方法为：

将烃源岩样品磨制成厚度为1mm，面积为3cm×(2-3)cm的薄片。

上述的方法中，优选地，利用激光共聚焦显微镜于激光扫描模式下对激光共聚焦片进行光学切片获得多层激光切片体的方法为：

以步长为1.33um，分辨率在100hz或400hz的条件下进行光片扫描，得到步数在100-300，体积在150-500um³的多层激光切片体。