[发明专利]一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统

权利要求书

1.一种用于调试微波器件的仿真方法，其特征在于，包括：

根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；

获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；

基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试；

其中，所述基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试，包括：

若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。

2.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，在所述根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述调试指标对应的响应函数之前，还包括：

配置不同微波器件的一个或多个响应函数。

3.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于所述响应函数确定的响应参数的值，包括：

获取分析设备返回的基于所述响应函数确定的响应参数的值。

4.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：

获取由分析设备控制的稳压电源输出的电压值；

获取基于所述电压值确定的响应参数的值。

5.如权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述获取基于响应函数确定的所述响应参数的值，包括：

获取用于执行所述仿真方法的设备的电位旋钮的位置信息；

获取基于所述位置信息确定的响应参数的值。

6.一种用于调试微波器件的仿真系统，其特征在于，包括分析设备和仿真器；

所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备；

所述分析设备用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；

所述仿真器还用于获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试；

其中，所述仿真器还用于基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试，包括：

所述仿真器还用于若基于所述第一调试指标和所述第二调试指标确定的差异在预设范围内，结束所述待调试的微波器件的调试。

7.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息，包括：输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值；

所述仿真器包括USB模块，所述USB模块用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备输出的响应参数的值，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

8.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述仿真系统还包括稳压电源，所述仿真器包括电压转化模块；

所述稳压电源用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备输出的值信息，并基于所述值信息，输出与所述值信息对应的电压值；

所述电压转换模块用于接收所述电压值，并基于所述电压值确定所述响应参数的值，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。

9.如权利要求6所述的仿真系统，其特征在于，所述仿真系统还包括电机，所述仿真器还包括电位旋钮；

所述电机用于在所述分析设备输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息之后，接收所述分析设备发送的值信息，并基于所述值信息，控制所述电位旋钮旋转至与所述值信息对应的位置，以使所述仿真器获取基于所述值信息确定的所述响应参数的值。