[发明专利]一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统

说明书

本发明适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。

技术领域

本发明属于微波器件调试技术领域，尤其涉及一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统。

背景技术

微波器件是指工作在微波波段的器件，通过电路设计，可将不同的微波器件组合成各种有特定功能的微波电路。微波器件在生产过程中存在加工误差，在使用的过程中也会发生磨损，同时随着使用环境(温度、湿度等)的变化，导致微波器件不能达到原有的设计标准。故需要对微波器件进行调试以达到设计标准。

现有的调试方法是在微波器件中加入调谐部件，然后使用矢量网络分析仪对微波器件进行调试。

但是，现有的调试技术只能针对同一种微波器件进行，若是要进行多种不同的微波器件的调试学习，则需要用到多种微波器件，然后再分别利用矢量网络分析仪进行调试，成本较高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，以解决现有技术中，采用微波器件实物来进行不同微波器件的调试学习导致的成本高的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种用于调试微波器件的仿真方法，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

本发明实施例的第二方面提供了用于调试微波器件的仿真系统，包括：分析设备和仿真器；所述仿真器用于根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数，并将所述响应函数发送至所述分析设备；所述分析设备用于获取所述响应函数，并输出基于所述响应函数和仿真模式确定的响应参数的值信息；所述仿真器还用于获取基于所述值信息确定的响应参数的值，并基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：

本发明实施例提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，首先根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；然后获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；最后基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。由于本发明实施例提供的仿真方法能够为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得在学习调试不同微波器件的时候，不用再去获取不同的微波器件的实物，也不用再利用矢量网络分析仪对微波器件进行测量，因此，能够大大的降低对不同微波器件的调试的学习成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本发明实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图2示出了本发明另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；

图3示出了本发明另一实施例提供的一种用于调试微波器件的仿真方法的实现流程示意图；