[发明专利]包括验证信号发生电路的电子设备

权利要求书

1.一种包括验证信号发生电路的电子设备，所述设备还包括：

错误发生控制电路，其被配置为每当在读取操作期间输出数据时，都产生被计数的错误插入码；

数据转换电路，其被配置为响应于错误插入码来转换数据以产生内部数据；以及

奇偶校验位转换电路，其被配置为响应于错误插入码来转换奇偶校验位以产生内部奇偶校验位；

其中，所述验证信号发生电路被配置为根据校正子信号和错误插入码来产生验证信号，

其中，校正子信号根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，每当响应于读取信号和列脉冲而创建计数脉冲时，都对错误插入码进行计数。

3.根据权利要求2所述的电子设备，

其中，读取信号被使能以执行读取操作；以及

其中，每当输出数据时都创建列脉冲。

4.根据权利要求1所述的电子设备，其中，根据错误校验矩阵，错误插入码的每个逻辑电平组合对应于数据和奇偶校验位中包括的至少一个比特位。

5.根据权利要求1所述的电子设备，其中，数据转换电路根据错误插入码的逻辑电平组合来将数据中包括的至少一个比特位的逻辑电平进行反相以产生内部数据。

6.根据权利要求1所述的电子设备，其中，基于错误校验矩阵，奇偶校验位通过对从数据中包括的比特位中选中的至少两个比特位的逻辑电平执行逻辑运算来产生。

7.根据权利要求1所述的电子设备，其中，奇偶校验位转换电路根据错误插入码的逻辑电平组合来将奇偶校验位中包括的至少一个比特位的逻辑电平进行反相，以产生内部奇偶校验位。

8.根据权利要求1所述的电子设备，其中，基于错误校验矩阵，校正子信号中包括的比特位的每个逻辑电平通过对从内部数据中包括的比特位中选中的至少两个比特位与从内部奇偶校验位中包括的比特位中选中的任意一个比特位执行逻辑运算来确定。

9.根据权利要求1所述的电子设备，其中，校正子信号包括关于内部数据中包括的任意一个比特位的位置的信息，所述内部数据通过将数据中包括的任意一个比特位进行反相来产生，或者校正子信号包括关于内部奇偶校验位中包括的任意一个比特位的位置的信息，所述内部奇偶校验位通过将奇偶校验位中包括的任意一个比特位进行反相来产生。

10.根据权利要求1所述的电子设备，

其中，如果校正子信号和错误插入码彼此相同，则验证信号发生电路产生具有第一逻辑电平的验证信号；以及

其中，如果校正子信号和错误插入码彼此不同，则验证信号发生电路产生具有第二逻辑电平的验证信号。

11.一种包括验证信号发生电路的电子设备，所述设备还包括：

奇偶校验位发生电路，其被配置为响应于错误校验矩阵来执行从数据中包括的比特位中选中的至少两个比特位的逻辑电平的逻辑运算以产生奇偶校验位；

数据转换电路，其被配置为响应于错误插入码来转换数据以产生内部数据；以及

奇偶校验位转换电路，其被配置为响应于错误插入码来转换奇偶校验位以产生内部奇偶校验位；

其中，所述验证信号发生电路被配置为根据校正子信号和错误插入码来产生验证信号，

其中，校正子信号根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

12.根据权利要求11所述的电子设备，

其中，每当响应于读取信号和列脉冲来创建计数脉冲时，都对错误插入码进行计数；

其中，读取信号被使能以执行读取操作；以及

其中，每当输出数据时都创建列脉冲。

13.根据权利要求11所述的电子设备，其中，根据错误校验矩阵，错误插入码的每个逻辑电平组合对应于数据和奇偶校验位中包括的至少一个比特位。