[发明专利]包括验证信号发生电路的电子设备

说明书

本申请涉及一种包括验证信号发生电路的电子设备。电子设备还可以包括数据转换电路、奇偶校验位转换电路。数据转换电路可以被配置为转换数据以产生内部数据。奇偶校验位转换电路可以被配置为转换奇偶校验位以产生内部奇偶校验位。验证信号发生电路可以被配置为根据校正子信号和错误插入码来产生验证信号。校正子信号可以根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2017年10月17日提交的申请号为10-2017-0134860的韩国专利申请的优先权，其通过引用整体合并于此。

技术领域

本公开的实施例总体而言涉及电子设备，并且更具体地涉及与错误有关的电子设备。

背景技术

近来，已经使用在每个时钟周期期间接收和输出四比特位数据或八比特位数据的DDR2方案或DDR3方案来提高半导体设备的操作速度。如果半导体设备的数据传输速度增加，那么当使用半导体设备传输数据时，发生错误的概率可能会增加。因此，已经提出了新的设计方案来提高数据传输的可靠性。

无论何时在半导体设备中传输数据，都可以产生能够检测到错误发生的错误码并且错误码与数据一起传输，以保证数据传输的可靠性。错误码可以包括能够检测错误的错误检测码(EDC)和能够自行校正错误的错误校正码(ECC)。

发明内容

根据一个实施例，可以提供一种电子设备。电子设备可以包括错误发生控制电路、数据转换电路、奇偶校验位转换电路(parity conversion circuit)和验证信号发生电路。错误发生控制电路可以被配置为每当在读取操作期间输出数据时，都产生被计数的错误插入码。数据转换电路可以被配置为响应于错误插入码来转换数据以产生内部数据。奇偶校验位转换电路可以被配置为响应于错误插入码来转换奇偶校验位以产生内部奇偶校验位。验证信号发生电路可以被配置为根据校正子信号(syndrome signal)和错误插入码来产生验证信号。校正子信号可以根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

根据一个实施例，可以提供一种电子设备。电子设备可以包括奇偶校验位发生电路、数据转换电路、奇偶校验位转换电路和验证信号发生电路。奇偶校验位发生电路可以被配置为响应于错误校验矩阵来执行从数据中包括的比特位中选中的至少两个比特位的逻辑电平的逻辑运算以产生奇偶校验位。数据转换电路可以被配置为响应于错误插入码来转换数据以产生内部数据。奇偶校验位转换电路可以被配置为响应于错误插入码来转换奇偶校验位以产生内部奇偶校验位。验证信号发生电路可以被配置为根据校正子信号和错误插入码来产生验证信号。校正子信号可以根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

根据一个实施例，电子设备可以包括错误发生控制电路、数据转换电路、奇偶校验位转换电路和验证信号发生电路。错误发生控制电路可以被配置为根据错误校验矩阵来产生具有与数据和奇偶校验位中包括的至少一个比特位相对应的逻辑电平组合的错误插入码。数据转换电路可以被配置为根据错误插入码的逻辑电平组合来将数据中包括的至少一个比特位的逻辑电平进行反相以产生内部数据。奇偶校验位转换电路可以被配置为根据错误插入码的逻辑电平组合来将奇偶校验位中包括的至少一个比特位的逻辑电平进行反相以产生内部奇偶校验位。验证信号发生电路可以被配置为根据校正子信号和错误插入码来产生验证信号。校正子信号可以根据内部数据和内部奇偶校验位来产生。

根据一个实施例，可以提供一种电子设备。电子设备可以包括奇偶校验位转换电路、数据转换电路和验证信号发生电路。数据转换电路可以被配置为使用由错误校验矩阵产生的错误插入码来将错误比特位插入与比特位位置的数据中并且产生内部数据。奇偶校验位转换电路可以被配置为使用错误插入码来将错误比特位插入到与比特位位置相对应的奇偶校验位中，并且产生内部奇偶校验位。验证信号发生电路可以被配置为通过检测在所期望的位置是否产生了错误比特位来验证是否已经正确执行了用于内部数据和内部奇偶校验位的错误校正操作。

附图说明

图1是示出根据本公开的一个实施例的电子设备的配置的框图。