[发明专利]一种微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的制作方法有效
申请号: | 201810366860.5 | 申请日: | 2018-04-23 |
公开(公告)号: | CN108417288B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 董文;乐孜纯 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G21K1/06 | 分类号: | G21K1/06;G01N23/223 |
代理公司: | 33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 折射透镜 阵列组合 微型化 集成组件 折光器 制作 装调 布局结构 尺寸确定 批量加工 制作工艺 鲁棒性 整形 光轴 焦斑 滤波 入射 承载 聚焦 | ||
一种微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的制作方法,包括以下步骤:(一)X射线阵列组合折射透镜的制作,(M+1)个组合折射透镜的布局结构,使得所有(M+1)个X射线组合折射透镜聚焦的焦斑在相同位置,且位于光轴上;(二)X射线折光器的制作,X射线折光器与所述X射线阵列组合折射透镜贴近放置;(三)X射线光阑的制作,X射线光阑的结构尺寸根据X射线阵列组合折射透镜的结构尺寸确定,实现入射X射线光束的第一次整形和滤波;(四)微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的装调,将X射线光阑、X射线折光器、X射线阵列组合折射透镜置于组件承载台上。本发明尺寸小、制作工艺简单、鲁棒性好、可批量加工、装调简便。
技术领域
本发明涉及X射线探测和成像领域,尤其是一种用于微束X射线荧光分析系统的新型X射线阵列组合折射透镜集成组件的制作方法。
背景技术
X射线荧光(XRF,X-Ray Fluorescence)分析系统能在常压下对各种形态(固态/液态/粉末等)样品进行简单快速、高分辨率和无损的元素定量测量分析。而微束X射线荧光分析系统(micro-XRF)因其具有更高的微区分辨率而受到广泛关注。
微束X射线荧光分析系统(micro-XRF)通常都需要配备X射线聚焦器件。使用了X射线聚焦器件的X射线荧光分析系统,虽然微区分辨率大幅度提高(通常可以提高一个数量级以上),但计数率会下降,影响了探测灵敏度。已有技术基于X射线毛细管器件的荧光光谱仪(专利号:201010180956.6),使用X射线毛细管器件进行聚焦,微区分辨率通常只能达到几十微米,不仅微区分辨率不够高,且因计数率下降导致探测灵敏度也有一定程度的降低;同时结构复杂、尺寸庞大,无法实现便携。发明人之前也提出了一种便携式微束X射线荧光光谱仪(专利号:201310356270.1,是与本发明最接近的已有技术),用X射线组合折射透镜获得探测微束,虽然微区分辨率大幅度提高,但计数率低,影响了探测灵敏度。
X射线组合折射透镜是集成型微结构器件,数值口径小,X射线光管发出的光不能全部被组合透镜接收,不仅使得计数率降低、而且浪费了X射线光能量,还增加了噪声。如果能发明新的器件结构,尽可能多的利用X射线光管发出的X射线光,则不仅能大幅度增加计数率、进而提高探测灵敏度,同时还能降低能耗、减小噪声。
发明内容
为了克服已有X射线荧光光谱仪微区分辨率还不够高,特别是因计数率低而导致的探测灵敏度不够高,且结构复杂、尺寸庞大、无法实现便携的不足,在发明一种微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的基础上,本发明提供一种微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的制作方法,为其在小型化微束X射线荧光分析系统中的应用奠定基础。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件的制作方法,所述微型化X射线阵列组合折射透镜集成组件包括用于进行X射线光束第一次整形和滤波的X射线光阑、用于进行X射线光束第二次整形为类平行光的X射线折光器、用于对入射的多个X射线子光束分别进行聚焦的X射线阵列组合透镜和组件承载台,所述组件承载台用于承载所述X射线光阑、X射线折光器和X射线阵列组合折射透镜,所述X射线光阑、X射线折光器和X射线阵列组合折射透镜依次位于同一光轴上,所述X射线阵列组合折射透镜的阵列结构布局,保证每一个子光束所形成的聚焦焦斑在同一位置并位于光轴上;
所述制作方法包括以下步骤:
(一)X射线阵列组合折射透镜的制作
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