[发明专利]显示装置、显示方法和存储介质有效
申请号: | 201810385891.5 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN108804282B | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 藤田祥;高桥公一;江间伸明 | 申请(专利权)人: | 横河电机株式会社 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F11/32 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 李雪春;王维玉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 显示 方法 存储 介质 | ||
1.一种显示装置,其特征在于包括:
操作输入部,指定观测值的数据范围;
解析条件设定部,与包含在所述数据范围内的样本数对应,确定所述观测值的解析范围或解析参数;
运算部,基于所述解析范围或所述解析参数,解析所述观测值的波形或倾向;以及
显示画面生成部,使显示部显示作为所述运算部的运算结果的波形或直线,
所述运算部基于所述解析范围或所述解析参数,执行所述观测值的低通滤波运算,
所述显示画面生成部使显示部以波形方式显示所述运算部的所述低通滤波运算的结果,
所述解析条件设定部根据所述数据范围来计算与所述低通滤波运算的截止频率对应的滤波器长度和滤波系数。
2.根据权利要求1所述的显示装置,其特征在于,
所述运算部基于所述解析范围或所述解析参数,计算表示所述观测值的变化倾向的斜率,
所述显示画面生成部使显示部显示所述观测值的波形以及具有与所述波形对应的、通过所述计算得到的斜率的直线。
3.根据权利要求2所述的显示装置,其特征在于,所述运算部包括变化倾向计算部,所述变化倾向计算部以目标函数最小化的方式计算一次函数的斜率,所述一次函数的斜率表示所述解析范围内的所述观测值的变化倾向。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的显示装置,其特征在于,所述解析条件设定部将所述解析范围中的规定比例确定为所述数据范围。
5.一种显示方法,其特征在于包括:
使用显示装置,指定观测值的数据范围;
设定与包含在所述数据范围内的样本数对应的所述观测值的解析范围或解析参数;
在运算过程中,解析基于所述解析范围或所述解析参数的所述观测值的波形或倾向;以及
显示作为所述运算过程的运算结果的波形或直线,
在所述解析中,基于所述解析范围或所述解析参数,执行所述观测值的低通滤波运算,
在所述波形或直线的显示中,以波形方式显示所述低通滤波运算的结果,
在所述解析范围或所述解析参数的设定中,根据所述数据范围来计算与所述低通滤波运算的截止频率对应的滤波器长度和滤波系数。
6.一种存储介质,为计算机可读的非临时性存储介质,并存储有用于使包含在显示装置中的计算机执行指令的程序,所述存储介质的特征在于,
所述程序使所述计算机执行的所述指令包括:
操作输入指令,指定观测值的数据范围;
解析条件设定指令,与包含在所述数据范围内的样本数对应,确定所述观测值的解析范围或解析参数;
运算指令,基于所述解析范围或所述解析参数,解析所述观测值的波形或倾向;以及
显示画面生成指令,使显示部显示作为所述运算指令的运算结果的波形或直线,
由所述运算指令,基于所述解析范围或所述解析参数,执行所述观测值的低通滤波运算,
由所述显示画面生成指令,在显示部显示所述低通滤波运算的结果,
由所述解析条件设定指令,根据所述数据范围来计算与所述低通滤波运算的截止频率对应的滤波器长度和滤波系数。
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