[发明专利]显示装置、显示方法和存储介质

说明书

本发明提供显示装置、显示方法和存储介质。显示装置包括：操作输入部，指定观测值的数据范围；解析条件设定部，与包含在所述数据范围内的样本数对应，确定所述观测值的解析范围或解析参数；运算部，基于所述解析范围或所述解析参数，解析所述观测值的波形或倾向；以及显示画面生成部，使显示部显示作为所述运算部的运算结果的波形或直线。

相关申请的交叉参考

本申请基于2017年04月28日向日本特许厅提交的日本专利申请2017-089881号，因此将所述日本专利申请的全部内容以引用的方式并入本文。

技术领域

本发明涉及显示装置、显示方法和存储介质。

背景技术

以往，为了在控制系统中对控制对象的生产过程的运转进行操作，有时设置有操作监测终端。有时利用该终端，设置有用户亦即运转人员能够任意地选择各种时间系列数据中的一些数据的操作监测终端，上述各种时间系列数据表示由现场设备等测量的生产过程的状态量等。在大多数情况下，所述操作终端具有像过程控制系统和记录器那样的、以时间系列显示状态量的显示装置。例如，日本专利公报5868784号中记载的过程监测系统是基于从测量工业过程状态量的现场设备输出的时间系列数据及该状态量的变化倾向，判断工厂的状态。显示由该判断的结果得到的状态和状态量。此外，日本专利公开公报特开2014-167706号中记载的监测装置是基于由传感器测量的物理量来输出趋势图。在上述图中，描绘了包含将来的物理量的预测值的、物理量的时间系列数据。用户解析在操作监测终端的显示部中选择的时间系列数据的变化倾向，进行异常的发现和将来值的预测等。此时，用户首先进行设定自身关心的时间轴范围的操作。接着，用户监测所设定的范围内显示的时间系列数据。

此外，即使在被控制的过程中取得的状态量是固定值，有时在该状态量中也叠加有来自外部环境的干扰或噪声。这些干扰或噪声的频率成分(周期等)大多因测量点而不同。

一般来说，一名用户需要对从现场设备取得的点(状态量)中的多个点进行操作监测。需要操作监测的点的数量即使在小规模的工厂中也有数十个，而在大规模的工厂中则有时达到数千个。但是，用户关心的范围在各测量点中不一定相同。此外，在时间系列数据所包含的成分中，特别是高频成分有时会妨碍该时间系列数据的解析。因此，研究将时间系列数据通过低通滤波器(LPF：Low Pass Filter)来降低高频成分。在噪声或干扰的频率成分与测量点对应而不同时，需要改变LPF的截止频率。与多个测量点对应来进行截止频率的变更会给用户造成负担。并且，如果该截止频率选择有误，则可能会降低或删除表示应该把握的事象的主成分。在这种情况下，会遗漏了该时间系列数据的变化。

此外，可以预想到的是，今后将会进一步普及能够自主检测和输出设备自身的状态的智能现场设备。但是，为了进行时间系列数据的解析和将来值的预测，用户的人均监测对象越多，用户的负担也越大。因此，有时只能监测需要操作监测的点中的极少一部分点。由此，有可能不能有效地利用从现场设备取得的信息。

发明内容

本发明的显示装置、显示方法和存储介质就是为解决上述问题而开发的。按照本发明提供的显示装置、显示方法和存储介质，用户在监测时间系列数据时能够容易地设定时间系列数据的解析条件。

(1)本发明提供一种显示装置，其包括：操作输入部，指定观测值的数据范围；解析条件设定部，与包含在所述数据范围内的样本数对应，确定所述观测值的解析范围或解析参数；运算部，基于所述解析范围或所述解析参数，解析所述观测值的波形或倾向；以及显示画面生成部，使显示部显示作为所述运算部的运算结果的波形或直线，所述运算部基于所述解析范围或所述解析参数，执行所述观测值的低通滤波运算，所述显示画面生成部使显示部以波形方式显示所述运算部的所述低通滤波运算的结果，所述解析条件设定部根据所述数据范围来计算与所述低通滤波运算的截止频率对应的滤波器长度和滤波系数。