[发明专利]一种孔位检具在审
申请号: | 201810388724.6 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN108592734A | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 姚力军;潘杰;王学泽;陈文庆 | 申请(专利权)人: | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 梁斌 |
地址: | 315000 浙江省宁波*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 靶材 检测孔 检测 固定件 孔位检具 检测环 螺纹孔 检具 种孔 检测技术领域 间隔设置 铝柱 | ||
1.一种孔位检具,其特征在于,包括:
检测环,所述检测环上间隔设置有与标准SRH420靶材的螺纹孔相对应的多个检测孔,所述检测环的内径大于所述标准SRH420靶材的铝柱体的直径;
以及,多个与所述检测孔相对应的固定件,所述固定件的数量大于等于所述检测孔的数量,在使用所述孔位检具对待检测SRH420靶材进行检测时,在每个检测孔与对应的螺纹孔均能通过所述固定件进行固定时,表明所述待检测SRH420靶材合格。
2.根据权利要求1所述的孔位检具,其特征在于,所述检测环包括:内环和外环,多个所述检测孔设置于所述内环上,所述外环的高度大于所述内环的高度,所述外环的内径大于所述标准SRH420靶材的直径。
3.根据权利要求2所述的孔位检具,其特征在于,所述外环的反面与所述内环的反面齐平,所述外环的正面高于所述内环的正面。
4.根据权利要求2所述的孔位检具,其特征在于,所述外环的反面高于所述内环的反面,所述外环的正面高于所述内环的正面。
5.根据权利要求2所述的孔位检具,其特征在于,所述外环的反面距离所述内环的反面的部分与所述外环的正面距离所述内环的正面的部分高度相等。
6.根据权利要求2-5任一项所述的孔位检具,其特征在于,所述外环的内圆的直径选自379.9mm至380.1mm之间的任一数值。
7.根据权利要求6所述的孔位检具,其特征在于,所述外环的外圆的直径选自420.38mm至420.58mm之间的任一数值。
8.根据权利要求2-5任一项所述的孔位检具,其特征在于,所述内环的外圆的直径选自379.9mm至380.1mm之间的任一数值,所述内环的内圆的直径选自329.9mm至330.1mm之间的任一数值。
9.根据权利要求2-5任一项所述的孔位检具,其特征在于,每个所述检测孔的中心位于直径选自349.99mm至350.01mm之间任一数值的圆弧上。
10.根据权利要求2-5任一项所述的孔位检具,其特征在于,所述检测孔的数量为8个,相邻两个检测孔之间的角度选自44.95至45.05度之间的任一数值。
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