[发明专利]OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法

说明书

本发明提供一种OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法。该OLED器件量测系统通过在检测器(3)外部设置与检测器(3)内的目镜相连接的目镜筒(5)及将相机(7)固定在所述目镜筒(5)上，能够使得所述相机(7)与目镜的取景对象相同，从而确保检测器(3)的中轴线与相机(7)的中轴线均垂直于OLED器件样品(9)，避免OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)与量测光斑(FA)的中心点(O3)发生偏移。该自动定位OLED器件量测点位的方法，使用上述OLED器件量测系统，能够准确地将OLED器件样品(9)的发光区上的待量测点(O2)定位到量测光斑(FA)的中心点(O3)。

技术领域

本发明涉及OLED显示器件检测技术领域，尤其涉及一种OLED器件量测系统及自动定位OLED器件量测点位的方法。

背景技术

有机发光二极管Organic Light Emitting Diode，OLED)器件(具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽，可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点，极具发展潜力。

OLED器件通常包括：基板、设于基板上的阳极、设于阳极上的空穴注入层、设于空穴注入层上的空穴传输层、设于空穴传输层上的有机发光层、设于有机发光层上的电子传输层、设于电子传输层上的电子注入层、及设于电子注入层上的阴极。OLED器件的发光原理为半导体材料和有机发光材料在电场驱动下，通过载流子注入和复合导致发光。具体的，在一定电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入到电子传输层和空穴传输层，电子和空穴分别经过电子传输层和空穴传输层迁移到有机发光层，并在有机发光层中相遇，形成激子并使发光分子激发，后者经过辐射弛豫而发出可见光。

在OLED器件中，构成有机发光层的有机发光材料的光学性能与使用寿命是OLED器件的重要指标，不同厂家出产的或不同掺杂成分的有机发光材料所表现出的光学性能也不相同，因此在OLED器件的材料评估阶段必需对有机发光层的光学参数进行量测。

请参阅图1，现有的用于量测OLED器件光学参数的OLED器件量测系统通常包括检测器(Detector)100及安装在所述检测器100一侧的相机200。现有的用于量测OLED器件光学参数的OLED器件量测系统的工作过程为：先由所述相机200对OLED器件样品300进行拍摄，然后根据所述相机200所拍摄到的图像找到所述OLED器件样品300的中心点或某一特定点来作为量测点，最后将所述检测器100的量测光斑对准所述量测点即可开始量测。

由于所述检测器100与相机200很难依靠物理硬件的连接来确保二者的中轴线平行或都垂直于所述OLED器件样品300(如图1所示，所述检测器100的中轴线与相机200的中轴线之间存在一夹角α)，所述检测器100与OLED器件样品300又仅能在X、Y方向上发生相对移动来补偿所述检测器100的量测光斑与所述量测点之间的距离，若出现所述检测器100的中轴线或相机200的中轴线与所述OLED器件样品300不垂直的情况，位置就会出现偏移，从而不能准确地量测到所述OLED器件样品300上的量测点。

发明内容

本发明的目的在于提供一种OLED器件量测系统，用于量测OLED器件光学参数，能够确保检测器的中轴线与相机的中轴线均垂直于OLED器件样品，避免OLED器件样品的发光区上的待量测点与量测光斑的中心点发生偏移。

本发明的另一目的在于提供一种自动定位OLED器件量测点位的方法，在量测OLED器件光学参数前能够确保检测器的中轴线与相机的中轴线均垂直于OLED器件样品，准确地将OLED器件样品的发光区上的待量测点定位到量测光斑的中心点。

为实现上述目的，本发明首先提供一种OLED器件量测系统，包括：