[发明专利]用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法

权利要求书

1.一种用于发射机性能测量的测量设备(4)，包括：

-第一测量路径(10)，所述第一测量路径(10)适于从被测设备(1)接收测量信号(13)，并且从所述测量信号(13)确定第一测量值(14)，

-第二测量路径(11)，所述第二测量路径(11)适于接收所述测量信号(13)并且从所述测量信号(13)确定第二测量值(15)，以及

-噪声抑制器(12)，所述噪声抑制器(12)连接到所述第一测量路径(10)的输出端和所述第二测量路径(11)的输出端，所述噪声抑制器(12)适于

-接收所述第一测量值(14)和所述第二测量值(15)，以及

-通过对于每个第一测量值(14)，将所述第一测量值(14)与同一时间点的相应的第二测量值(15)相乘生成多个测量值积来抑制噪声，

其中，所述第一测量路径和所述第二测量路径相同。

2.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述噪声抑制器(12)适于基于所述多个测量值积来确定所述被测设备(1)的性能值信号(16)，以及

其中，所述性能值信号(16)有利地是误差向量幅度或带内发射。

3.根据权利要求2所述的测量设备，

其中，所述噪声抑制器(12)适于

-将所述多个测量值积相加，

-通过所述多个测量值积的测量值积的数量和/或基本功率级，将相加后的所述多个测量值积归一化，生成归一化的积总和，以及

-基于所述归一化的积总和，确定所述性能值信号(16)。

4.根据权利要求3所述的测量设备，

其中，所述第一测量路径(10)包括用于接收所述测量信号(13)的第一天线或第一连接器，以及

其中，所述第二测量路径(11)包括用于接收所述测量信号(13)的第二天线或第二连接器。

5.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述测量设备(4)包括用于接收所述测量信号(13)的第三天线或第三连接器，以及

其中，所述测量设备包括分离器，所述分离器适于在所述第一测量路径(10)和所述第二测量路径(11)之间分离接收的所述测量信号(13)。

6.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述第一测量路径(10)和所述第二测量路径(11)各自包括射频校正器(20，30)，所述射频校正器(20，30)适于确定和/或校正载波频率误差和/或载波频率泄漏。

7.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述第一测量路径(10)和所述第二测量路径(11)各自包括快速傅里叶变换器(21，31)，所述快速傅里叶变换器(21，31)适于将所述测量信号(13)或从所述测量信号(13)导出的信号变换到频域。

8.根据权利要求7所述的测量设备，

其中，所述第一测量路径(10)和所述第二测量路径(11)各自包括离散傅里叶逆变换器(23，33)，所述离散傅里叶逆变换器(23，33)适于将从所述测量信号(13)导出的频域信号变换到时域。

9.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述第一测量路径(10)和/或所述第二测量路径(11)包括均衡器(22，32)，所述均衡器(22，32)适于执行所述第一测量路径(10)和所述第二测量路径(11)的信号电平均衡。

10.根据权利要求1所述的测量设备，

其中，所述测量信号(13)包括垂直偏振分量(13_V)和水平偏振分量(13_H)。