[发明专利]用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法

说明书

本发明涉及用于噪声校正的发射机性能测量的测量设备和测量方法。测量设备(4)包括：第一测量路径(10)，该第一测量路径适于从被测设备(1)接收测量信号(13)，并且从所述测量信号(13)确定第一测量值(14)。而且，该测量设备包括第二测量路径(11)，该第二测量路径适于接收所述测量信号(13)并且从所述测量信号(13)确定第二测量值(15)。最后，该测量设备包括噪声抑制器(12)，该噪声抑制器连接到所述第一测量路径(10)的输出端和所述第二测量路径(11)的输出端，并且适于接收所述第一测量值(14)和所述第二测量值(15)并且通过对于每个第一测量值，将所述第一测量值与相应的第二测量值相乘从而生成多个测量值积来抑制噪声。

技术领域

本发明涉及测量发射机的性能。尤其是，本发明包括测量方法和测量设备。

背景技术

对于5G设备性能测试，需要测量待测试设备的非常低的噪声级。在测量这种低噪声级时，由被测设备到测量设备的传输信道产生的噪声以及由测量设备自身产生的噪声是重要因素。通过传统方法消除这些噪声源需要大量的硬件投入。

用于消除噪声的替代方法，使用例如从文献US 2007/0225927中已知的两个信号的相关性。然而，执行这样的相关性也会导致高硬件投入。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种测量设备和测量方法，其允许消除信道噪声和测量设备噪声，同时仅需要低的硬件复杂度。

该目的通过设备权利要求1的特征以及方法权利要求15的特征实现。从属权利要求包含进一步发展。

本发明的用于发射机性能测量的测量设备包括第一测量路径，所述第一测量路径适于从被测设备接收测量信号，并且从所述测量信号确定第一测量值。而且，所述测量设备包括第二测量路径，所述第二测量路径适于接收所述测量信号并且从所述测量信号确定第二测量值。最后，所述测量设备包括噪声抑制器，所述噪声抑制器连接到所述第一测量路径的输出端和所述第二测量路径的输出端，并且适于接收所述第一测量值和所述第二测量值以及通过对于每个第一测量值，将所述第一测量值乘以相应的第二测量值从而生成多个测量值积来抑制噪声。因此，由信道和测量设备产生的噪声随着时间的推移而消失。

重要的是要注意，在测量测量信号时，不必通过每个测量路径测量整个测量信号。也可以只测量测量信号的一部分。甚至通过第一测量路径和第二测量路径测量测量信号的不同部分也是可以的。

有利地，噪声抑制器适于基于所述多个测量值积来确定被测设备的性能值信号。性能值信号有利地是误差向量幅度或带内发射。因此，可以非常准确地确定被测设备的质量，而不需要进行大量的硬件投入。

根据另一个有利的实施方式，噪声抑制器适于将所述多个测量值积相加，通过所述多个测量值积的测量值积的数量和/或基本功率级，将相加的多个测量值积归一化，从而生成归一化的积总和。噪声抑制器还适于基于归一化的积总和来确定性能值。这允许非常简单但准确地确定被测设备的质量。

有利地，第一测量路径包括用于接收测量信号的第一天线或第一连接器。而且，有利地，第二测量路径包括用于接收测量信号的第二天线或第二连接器。这允许执行无线测量或有线测量而不会导致高的硬件投入。

根据另一有利实施方式，测量设备包括用于接收测量信号的第三天线或第三连接器，以及适于在第一测量路径和第二测量路径之间分离所接收的测量信号的分离器。这允许更简单的设置。

有利地，第一测量路径和第二测量路径各自包括射频校正器，所述射频校正器适于确定和/或校正载波频率误差和/或载波频率泄漏。这进一步提高了准确性。

有利地，第一测量路径和第二测量路径各自包括快速傅里叶变换器，所述快速傅里叶变换器适于将测量信号或从测量信号导出的信号变换到频域。这允许对频域进行分析。