[发明专利]一种测试装置、系统及测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：

单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；

测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述单板包括：

上位机连接接口，用于连接所述上位机；

测量模块连接接口，用于连接所述测量模块；

存储设备连接接口，用于连接所述存储设备；

控制芯片，所述控制芯片连接所述测量模块连接接口和所述存储设备连接接口，所述控制芯片用于根据所述测试指令控制所述存储设备和所述测量模块。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述单板还包括电源模块，所述电源模块用于为所述测量模块提供电源输入。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述测量模块包括：

多路可调电压电源单元，用于为所述存储设备提供多路可调电压电源；

多路电源通断控制单元，用于控制所述多路可调电压电源的通断；

多路电压测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电压；

多路电流测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电流；

温度测量单元，用于测量所述存储设备的环境温度；

处理单元，分别与所述多路可调电压电源单元、多路电源通断控制单元、多路电压测量单元、多路电流测量单元及温度测量单元连接，用于对所述存储设备进行不同工作状态下的电气特性参数的测量、环境温度的测量以及对所述存储设备进行多路电源通断控制。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测量模块还包括：

连接器接口，用于通过第一连接器连接所述单板的测量模块连接接口；

所述测量模块连接接口以及所述连接器接口采用相同的协议，并定义为统一接口。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述多路可调电压电源单元输出的多路可调电压电源通过所述第一连接器输入到所述单板，再由所述单板将所述多路可调电压电源输出到所述存储设备。

7.根据权利要求1-6任一项所述的测试装置，其特征在于，所述下位机还包括：

存储设备转接单元，包括存储设备接口及单板连接接口，用于通过所述存储设备接口连接所述存储设备，并通过所述单板连接接口连接所述单板，以实现所述存储设备与所述单板的通信连接。

8.一种测试系统，其特征在于，包括：上位机、至少一个存储设备以及至少一个如权利要求1-7任一项所述的测试装置；

所述上位机连接所述测试装置，每个所述测试装置与每个所述存储设备通过第二连接器对应连接。

9.一种测试方法，其特征在于，应用于如权利要求8所述的测试系统，所述测试方法包括：

接收所述上位机发送的测试指令；

根据所述测试指令，对所述存储设备进行多功能测试；

将测试结果返回到所述上位机。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述测试指令包括测量指令及操作指令，所述根据所述测试指令，对所述存储设备进行多功能测试，包括：

接收测量指令并反馈对所述测量指令的执行结果；

接收操作指令，并根据所述操作指令执行对所述存储设备的测试操作。