[发明专利]一种测试装置、系统及测试方法

说明书

本发明涉及存储测试技术领域，公开了一种测试装置、系统及测试方法,所述的测试装置用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。通过上述方式，本发明能够实现存储设备的多功能测试，提高测试效率，降低测试成本。

技术领域

本发明实施方式涉及存储测试技术领域，特别是涉及一种测试装置、系统及测试方法。

背景技术

存储设备包括U盘(USB闪存盘，USB flash disk)、SSD(固态硬盘，Solid StateDrive)、eMMC(嵌入式多媒体存储卡，Embedded Multi Media Card)、eMCP(嵌入式多芯片封装，embedded Multi Chip Package)、UFS(通用闪存存储，Universal Flash Storage)、SD卡(安全数码存储卡，Secure Digital Memory Card)等设备，被广泛应用在各种产品中，例如计算机、手机等电子产品。

目前，随着存储行业技术快速发展，存储软件及相关硬件日益复杂，对于企业而言，如何快速可靠地向市场推出产品至关重要。在存储设备的开发过程中，测试环节扮演着重要的角色，因此，提高测试效率和降低测试成本，对于提高存储设备的产品竞争力至关重要。目前，对于存储设备电气特性参数的测试，一般是针对不同的工作状态，使用仪器进行单独测量，或者，使用可编程的仪器与测试装置联机来进行测试。

发明人在实现本发明实施例的过程中发现：目前的这些测试方法，主要存在测试步骤繁琐以及测试成本较高的缺点，由于存储设备存在多种工作状态，如果每一种工作状态都要使用仪器单独进行测量，则测试过程非常繁琐，测试效率较低；而如果使用可编程仪器进行联机测试，则需要采购昂贵的可编程仪器，测试成本较高。

发明内容

本发明实施例提供一种测试装置、系统及测试方法，以解决现有技术存在的存储设备的测试效率低，测试成本高的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

第一方面，本发明实施例提供一种测试装置，用于存储设备的多功能测试，所述测试装置包括至少一个下位机，每个所述下位机包括：

单板，分别与上位机及所述存储设备通信连接，用于接收并执行所述上位机发送的测试指令，并向所述上位机返回对所述存储设备的多功能测试结果；

测量模块，与所述单板通过统一接口连接，用于接收来自所述单板的测试指令，以实现对所述存储设备的多功能测试。

在一些实施例中，所述单板包括：

上位机连接接口，用于连接所述上位机；

测量模块连接接口，用于连接所述测量模块；

存储设备连接接口，用于连接所述存储设备；

控制芯片，所述控制芯片连接所述测量模块连接接口和所述存储设备连接接口，所述控制芯片用于根据所述测试指令控制所述存储设备和所述测量模块。

在一些实施例中，所述单板还包括电源模块，所述电源模块用于为所述测量模块提供电源输入。

在一些实施例中，所述测量模块包括：

多路可调电压电源单元，用于为所述存储设备提供多路可调电压电源；

多路电源通断控制单元，用于控制所述多路可调电压电源的通断；

多路电压测量单元，用于测量所述存储设备的多路供电电压；