[发明专利]存储器电路装置及存储器检测方法

说明书

本发明提供了一种存储器电路装置及存储器检测方法。所述存储器电路装置包括：存储单元阵列，包括用于存储数据的存储线和备用存储线；备用解码器控制电路，用于接收检测装置发送的受损存储线地址，并根据所述受损存储线地址开启对应的备用存储线，以使所述备用存储线代替所述受损存储线存储数据；其中，所述受损存储线地址是由检测装置在检测所述存储单元阵列中存储线的工作状态时确定的。本发明实施例可以实现：通过备用解码器控制电路可以根据受损存储线地址开启对应的备用存储线，无需通过外部的控制器控制开启备用存储线，这样提高了存储器电路装置的修补效率。

技术领域

本发明涉及存储器装置，特别涉及一种存储器电路装置及存储器检测方法。

背景技术

随着电路复杂度的提升，各种形式的存储器装置在制造上无可避免地容易产生不良或受损的存储元件。因此，可以在存储单元阵列中设置检测装置，通过检测装置对存储单元阵列进行检测，当检测出不良或受损的存储元件时，启动备用存储元件来替换受损的存储元件。

如图1所示，为传统技术中的存储器电路装置11及其与检测装置12的连接示意图。其中，检测装置12用于检测存储器电路装置11中是否存在受损存储线。检测过程如下：检测装置12接收对存储器电路装置11进行检测的检测指令，并将该指令存储于图形生成单元121中的控制指令寄存器121a。该测试指令中包含了需要测试的存储单元阵列11的存储地址信息及该地址对应存储的数据。地址寄存器121b存储需要测试的存储地址；数据寄存器存储所述存储地址中应当存储的正确数据。确定单元122接收存储单元阵列11发送的经运算放大器124放大的所述存储地址中实际存储的数据，并将实际存储的数据与数据寄存器121c存储的正确数据相比较。如果确定单元122输出的比较结果显示二者相同，说明该存储地址对应的存储线没有受损。如果输出的比较结果显示二者不一致，则说明该存储地址对应的存储线为受损存储线。确定单元122将该结果经运算放大器125放大后发送至存储单元123。同时，地址寄存器121c也将该存储地址经运算放大器126放大后发送至存储单元。存储单元123向外部控制器13发送该存储地址对应的存储线损坏的通知，以使得外部控制器13指定备用存储线来替换受损存储线。然后根据外部控制器13的控制指令，地址寄存器121b将受损存储线的地址发送至存储单元阵列，以使备用存储线根据受损存储线的地址来替换受损存储线，数据寄存器121c受损存储线对应的存储数据经运算放大器126放大后发送至所指定的备用存储线。

但是这种技术方案需要通过将受损情况存储至缓存器中，再通过外部控制器来进行分析，再通过外部控制器的分析结果向存储单元阵列发送控制指令，数据运算和传输过程较多，这样降低了存储器电路装置的修补效率。

发明内容

本发明提供存储器电路装置及存储器检测方法，以为解决背景技术中提出的一个或多个技术问题提供一种有益的选择。

作为本发明的一个方面，本发明实施例提供一种存储器电路装置，包括：

存储单元阵列，包括用于存储数据的存储线和备用存储线；

备用解码器控制电路，用于接收检测装置发送的受损存储线地址，并根据所述受损存储线地址开启对应的备用存储线，以使所述备用存储线代替所述受损存储线存储数据；

其中，所述受损存储线地址是由检测装置在检测所述存储单元阵列中存储线的工作状态时确定的。

结合第一方面，本发明实施例在第一方面的第一实施方式中，所述备用解码器控制电路包括：

至少一个备用存储线控制单元，并且每个所述备用存储线控制单元均对应连接一个备用存储线。

结合第一方面的第一实施方式，本发明实施例在第一方面的第二实施方式中，所述备用存储线控制单元包括：

寄存单元，用于接收所述检测装置发送的受损存储线的地址，并存储所述受损存储线的地址；