[发明专利]一种磁性能试验板件剪切质量监控方法有效

专利信息
申请号: 201810423871.2 申请日: 2018-05-07
公开(公告)号: CN108857578B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 浦红;方政;杨兆林;宋鑫晶;孙静 申请(专利权)人: 马鞍山钢铁股份有限公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20;G01R33/12
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 蒋兵魁
地址: 243003 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 剪切 单片 圈法 剪切刀具 软磁材料 质量监控 监控 磁性能 试验板 测量磁性 加工 磁性能测量 精密剪切 质量恶化 剪板机 磨损 刀具 应用 发现
【权利要求书】:

1.一种磁性能试验板件剪切质量监控方法,其特征在于:所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为:1)精密剪切机更换新剪切刀具,将软磁材料加工单片试样和方圈试样,以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50,计算方圈法对单片法的相对偏差,将偏差数值A作为监控基准数值;2)精密剪切机使用后,采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样,以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50,计算方圈法对单片法的相对偏差,偏差数值B作为监控实际数值;3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比,当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时,表明精密剪切机剪切的板件不符合要求;4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时,更换新剪切刀具。

2.根据权利要求1所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法,其特征在于:更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时,加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料;采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时,加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。

3.根据权利要求1所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法,其特征在于:精密剪切机使用后,按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样,以方圈法与单片法分别测量磁性能P1.5/50,计算方圈法对单片法的相对偏差,偏差数值B作为监控实际数值,多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。

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