[发明专利]一种磁性能试验板件剪切质量监控方法

说明书

本发明提供一种应用于软磁材料磁性能测量技术领域的磁性能试验板件剪切质量监控方法，新剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P_1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值A作为监控基准数值；精密剪切机使用后，磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P_1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具，本发明的磁性能试验板件剪切质量监控方法，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行监控，发现剪切质量恶化后，能及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果的不良影响。

技术领域

本发明属于软磁材料磁性能测量技术领域，更具体地说，是涉及一种磁性能试验板件剪切质量监控方法。

背景技术

精密剪板机剪切质量的好坏，直接影响到软磁材料磁性能测量结果的准确性。软磁材料磁性能测量过程中，试验标准对试样的剪切质量，要求无明显毛刺，但毛刺大小无法准确量化。这样导致的问题是，当精密剪板机使用一段时间后，刀具刃口磨损，剪切出的板件质量发生变化，从而影响后续磁性能试验的试样结果准确性，无法满足要求。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种步骤简单，能够对加工试样的剪板机的剪切质量进行有效监控，使剪板机的剪切质量量化，在发现剪切质量恶化后，能够及时更换刀具，避免试样剪切质量不好对试验结果造成不良的影响，有效提高磁性能试验结果可靠性的磁性能试验板件剪切质量监控方法。

要解决以上所述的技术问题，本发明采取的技术方案为：

本发明为一种磁性能试验板件剪切质量监控方法，所述的磁性能试验板件剪切质量监控方法的监控步骤为：1)精密剪切机更换新剪切刀具，将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P_1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，将偏差数值A作为监控基准数值；2)精密剪切机使用后，采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P_1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值；3)将监控基准数值和监控实际数值进行对比，当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，表明精密剪切机剪切的板件不符合要求；4)当监控实际数值超过监控基准数值允许的偏差范围时，更换新剪切刀具。

更换新剪切刀具的精密剪切机将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料；采用精密剪切机磨损后的剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样时，加工单片试样和方圈试样的软磁材料采用相同的软磁材料。

精密剪切机使用后，按周期采用磨损剪切刀具将软磁材料加工单片试样和方圈试样，以方圈法与单片法分别测量磁性能P_1.5/50，计算方圈法对单片法的相对偏差，偏差数值B作为监控实际数值，多个偏差数值B的数值变化监控剪切质量变化。

采用本发明的技术方案，能得到以下的有益效果：