[发明专利]一种目标物体的体积测量方法及装置

权利要求书

1.一种目标物体的体积测量方法，包括设置在目标物体上方的摄像头和测距传感器，其特征在于，包括如下步骤：

获取目标物体的待测高度，所述待测高度为所述目标物体的顶部最高点与其底部所在平面的距离；

获取目标物体的标定图像，并计算所述标定图像的第一拟合函数值和第二拟合函数值；

对所述标定图像进行边缘检测得到所述标定图像的轮廓，并根据所述轮廓得到所述标定图像的外接矩形；

根据所述第一拟合函数值和所述第二拟合函数值，计算所述外接矩形的长度和宽度；

根据所述待测高度、所述长度和所述宽度计算所述目标物体的体积；

所述计算所述标定图像的第一拟合函数值和第二拟合函数值的步骤包括：

获取所述标定图像的相邻像素点的横纵坐标；

根据所述相邻像素点的横纵坐标，计算所述相邻像素点间的第一距离和第二距离；

获取第一预设距离、第二预设距离以及所述目标物体的顶部最高点距离测距传感器的第二高度；

根据所述第一距离和所述第一预设距离，计算所述第一距离与所述第一预设距离的比值得到第一标定参数；根据所述第二距离和所述第二预设距离，计算所述第二距离与所述第二预设距离的比值得到第二标定参数；

根据所述目标物体的顶部最高点距离测距传感器的第二高度，对所述第一标定参数和所述第二标定参数进行曲线拟合分别得到所述第一拟合函数值与所述第二拟合函数值。

2.根据权利要求1所述的目标物体的体积测量方法，其特征在于，所述获取目标物体的待测高度，包括：

获取所述目标物体的底部所在平面的距离所述测距传感器的第一高度；

获取所述目标物体的顶部最高点距离所述测距传感器的第二高度；

根据所述第一高度和所述第二高度计算其二者的差值得到所述待测高度。

3.根据权利要求1所述的目标物体的体积测量方法，其特征在于，所述对所述标定图像进行边缘检测得到所述标定图像的轮廓的步骤之前还包括：

对所述标定图像进行校正。

4.根据权利要求1所述的目标物体的体积测量方法，其特征在于，所述计算所述外接矩形的长度的步骤包括：

在标定板上确定所述标定图像的所在区域；

根据所述所在区域，在所述标定板的横向上获取所述标定图像的相邻像素点间的横向距离值；

根据所述第一拟合函数值、所述横向距离值，计算所述横向距离值与所述第一拟合函数值的商值得到所述长度。

5.根据权利要求1所述的目标物体的体积测量方法，其特征在于，所述计算所述外接矩形的宽度的步骤包括：

在标定板上确定所述标定图像的所在区域；

根据所述所在区域，在所述标定板的纵向上获取所述标定图像的相邻像素点间的纵向距离值；

根据所述第二拟合函数值、所述纵向距离值，计算所述纵向距离值与所述第二拟合函数值的商值得到所述宽度。

6.根据权利要求1所述的目标物体的体积测量方法，其特征在于，所述测距传感器为超声波传感器。