[发明专利]有屏蔽件的探头末端接口

权利要求书

1.一种差分测试探头末端，包括：

在所述探头末端的近端处的导电材料的插口，所述插口包括凹陷以接收信号引脚；

邻近所述插口的传导性材料的参考本体；以及，

在所述探头末端的近端处环绕所述参考本体的非传导性材料的绝缘间隔元件，所述绝缘间隔元件包括：

用以将所述信号引脚接收到所述插口内的信号端口，和

参考端口，其用以接收参考引脚和维持所述参考引脚与所述参考本体的近端电气连通，

其中，所述绝缘间隔元件的形状适合于将所述信号引脚和所述参考引脚接受到所述测试探头末端内而同时所述绝缘间隔元件的近侧壁邻接被测设备表面，并且将所述信号引脚与来自其他被测设备引脚的电场隔离。

2.根据权利要求1所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述被测设备表面是排针或电路板。

3.根据权利要求1所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件在所述插口和所述参考本体之间延伸。

4.根据权利要求1所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件环绕所述参考端口，且电气地屏蔽所述参考引脚、参考本体、信号引脚和插口使其不受邻近的被测设备引脚影响。

5.根据权利要求1所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述插口包括附连到所述绝缘间隔元件的近端和远端，所述测试探头末端还包括衰减器，其直接附连至所述插口的远端且与其电气连通。

6.根据权利要求5所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述参考本体环绕附连到所述插口的衰减器，所述参考本体由非传导性材料与所述衰减器分离。

7.根据权利要求1所述的差分测试探头末端，其特征在于，还包括定位在所述参考端口中的接触元件，所述接触元件可释放地维持所述参考引脚与所述参考本体电气连通。

8.根据权利要求7所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述接触元件是与所述参考本体电气连通的传导性材料的机械夹。

9.根据权利要求7所述的差分测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件包括邻近所述参考端口的参考侧壁，所述参考侧壁包括接触开口，其形状适合于在所述参考引脚的释放期间支持接触元件运动。

10.一种测试探头末端，包括：

在所述探头末端的近端处的导电材料的插口，所述插口包括带有凹陷以接收信号引脚的近端和远端；

衰减器，其带有近端和远端，所述近端直接附连至所述插口的远端且与其电气连通；

在所述探头末端的远端处的缆线，所述缆线与所述衰减器的远端电气连通；

在所述探头末端的近端处环绕所述插口的非传导性材料的绝缘间隔元件，所述绝缘间隔元件包括信号端口以将所述信号引脚接收到所述插口内；以及

环绕所述插口、所述衰减器和所述缆线的近端的传导性材料的参考本体，

其中，所述绝缘间隔元件的形状适合于将所述信号引脚接受到所述测试探头末端内，同时邻接被测设备的表面。

11.根据权利要求10所述的测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件还包括参考端口以接收参考引脚和维持所述参考引脚与所述参考本体的近端电气连通。

12.根据权利要求11所述的测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件缓解邻近的被测设备引脚、所述参考引脚和所述信号引脚之间的电气连通。

13.根据权利要求11所述的测试探头末端，其特征在于，所述绝缘间隔元件缓解邻近的被测设备引脚、所述插口和所述参考本体之间的电气连通。

14.根据权利要求11所述的测试探头末端，其特征在于，还包括定位在所述参考端口中的接触元件，所述接触元件可释放地维持所述参考引脚与所述参考本体电气连通。