[发明专利]有屏蔽件的探头末端接口

说明书

本发明涉及有屏蔽件的探头末端接口。公开的是一种差分测试探头末端。探头末端包括在探头末端的近端处的导电材料的插口。插口包括凹陷以接收信号引脚。探头末端也包括环绕插口的传导性材料的参考本体。探头末端还包括在探头末端的近端处环绕参考本体的非传导性材料的绝缘间隔元件。绝缘间隔元件包括信号端口以将信号引脚接收到插口内。绝缘间隔元件还包括参考端口以接收参考引脚和维持参考引脚与参考本体的近端电气连通。

相关申请的交叉引用

本申请要求2017年5月10日提交且名称为“有屏蔽件的方形探针末端接口”的美国临时专利申请序列No. 62/504,336的权益，所述文献通过引用如同以其整体被复制一样并入本文。

技术领域

本公开涉及与测试和测量探头的方面相关联的机构，且更具体地，涉及用于连接到被测设备（DUT）的有屏蔽件的测试探头末端。

背景技术

测试和测量系统（例如，示波器）被设计为接收和测试例如来自DUT的信号。在一些示例测试网络中，采用探头以与DUT上的信号引脚接合，且朝向测试和测量系统电气地传导测试信号。探头元件之间的寄生电容可以改变探头的频率响应，且因此改变通过探头的测试信号。此外，可以在邻近的DUT引脚之间诱生电流。初始地，在DUT中不存在此类感生电流，且因此，此类感生电流是负面地影响测试信号的噪声。而且，探针可以经由暴露的线、夹等附接至引脚。此类部件可以增加感生电流的量，且也在感生电流的量中引入变化性。这些部件可以为测试网络增加不一致的信号连接，且因此增加测试信号中的对应噪声。此类电气噪声是探头系统性能中的限制因素，然而，在带有远为更高的环境信号（ambient signal）的环境中能够使用带有光学隔离和高分辨能力的现代测试系统，这能够将更高的电流和噪声诱导至测试系统内。因此，在测试和测量系统的测试结果中，探头噪声可以造成显而易见的差异。

本公开中的示例解决这些和其他问题。

附图说明

根据参考附图的实施例的如下描述，本公开的实施例的方面、特征和优点将变得显而易见，在附图中：

图1是示例有屏蔽件的探头末端的横截面侧视图。

图2是接合至DUT电路板上的差分引脚（differential pin）的示例有屏蔽件的探头末端的横截面侧视图。

图3是接合至DUT电路板上的引脚的示例有屏蔽件的探头末端的横截面等距视图。

图4是接合至DUT电路板上的差分引脚的示例有屏蔽件的探头末端的等距侧视图。

图5是接合至插头引脚（header pin）和直接焊接的引脚的示例有屏蔽件的探头末端的等距侧视图。

图6是示例有屏蔽件的探头末端的等距底视图。

具体实施方式

可以采用方形引脚以从DUT获得测试信号。用于连接至DUT的一个方法使用连接到已经被焊下至DUT的方形引脚的暴露的引线。这些引线不具有将参考信号或差分信号与共模信号（common-mode signal）隔离的机构。此外，双引线的不受控的阻抗对于系统的频率响应具有负面影响，从而导致带宽的损耗和增加的偏差。很少存在机构（如果存在）以便联接至安装在DUT上的一对差分引脚，且将此类引脚连接至同轴信号采集系统，所述同轴信号采集系统保持采集系统的频率响应，为共模干扰提供屏蔽，以及提供实现高差分电压等级所期望的爬电和间隙间距。换言之，某些测试系统可以对测试装备设置严格的约束。例如，一些测试系统将差分输入电压额范围扩展至大于一千伏特（kV）。相应地，可以采用探头末端结构以提供爬电和间隙间距，以实现更高的电压。该结构可以仍然提供足够的隔离，且支持高于1千兆赫（GHz）的高信号速度。