[发明专利]雷达偏移速度确定和偏移处理方法、存储介质、电子设备在审
申请号: | 201810453714.6 | 申请日: | 2018-05-14 |
公开(公告)号: | CN108627875A | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | 崔凡;李思远;杨茂林;张凯 | 申请(专利权)人: | 中国神华能源股份有限公司;中国矿业大学(北京);神华神东煤炭集团有限责任公司 |
主分类号: | G01V3/12 | 分类号: | G01V3/12;G01V3/38;G01S7/41 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人: | 崔华 |
地址: | 100011 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 剖面数据信息 偏移 双曲线 双曲线方程 响应 双曲线数学模型 速度确定 存储介质 电子设备 偏移处理 探地雷达 雷达 回波 合成 获取目标 偏移效果 直接获取 | ||
本发明公开了一种雷达偏移速度确定和偏移处理方法、存储介质、电子设备,雷达偏移速度确定方法包括:获取探地雷达的响应剖面数据信息,响应剖面数据信息包括目标回波双曲线;根据响应剖面数据信息,生成双曲线数学模型;获取目标回波双曲线的双曲线坐标值;根据双曲线数学模型,将双曲线坐标值拟合成双曲线方程;根据双曲线方程,确定响应剖面数据信息的偏移速度。实施本发明,通过直接获取探地雷达的响应剖面数据信息,提高了响应剖面数据信息的准确性,同时根据准确的双曲线数学模型,将双曲线坐标值拟合成双曲线方程,通过双曲线方程确定响应剖面数据信息的偏移速度,操作简便,提高偏移速度的准确性,从而提高偏移效果。
技术领域
本发明涉及地表探测技术领域,尤其涉及一种雷达偏移速度确定和偏移处理方法、存储介质、电子设备。
背景技术
探地雷达是利用天线发射和接收高频电磁波来探测介质内部物质特性和分布规律的一种地球物理方法。
探地雷达偏移成像可直观反映出雷达剖面中的地质异常信息。在探地雷达偏移处理过程中,给定准确的偏移速度是关键,当偏移速度越接近被测目标体位置处的电磁波波速真实值时,偏移效果越好。
现有技术中,在地下介质分布未知的情况下,偏移速度主要通过以下方法确定:在实际探测工作开展前,先利用介电常数法、金属板反射法、反射系数法等特定实验方法,获取探测区域背景介质的相对介电常数等相关参数。探测后,结合电磁波波速和相对介电常数之间的经验公式将相对介电常数代入经验公式进行简单代数运算,从而确定偏移速度。
然而,发明人在实现发明过程中发现,现有的探地雷达的偏移速度的确定方法存在以下缺陷:
1)获取相对介电常数的操作过程繁琐,并且由于受到地下场所的条件制约,导致获取到的相对介电常数存在误差;
2)确定的偏移速度不准确,由于电磁波波速和相对介电常数之间的经验公式是通过人为经验总结出,因此存在误差,将相对介电常数代入经验公式中,会导致双重误差积累,从而使确定的偏移速度不准确,降低探地雷达响应剖面数据信息的偏移效果。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术确定偏移速度的过程繁琐,确定的偏移速度不准确,降低探地雷达响应剖面数据信息的偏移效果的不足,提供一种雷达偏移速度确定和偏移处理方法、存储介质、电子设备。
本发明的技术方案提供一种雷达偏移速度确定方法,包括:
获取探地雷达的响应剖面数据信息,所述响应剖面数据信息包括目标回波双曲线;
根据所述响应剖面数据信息,生成双曲线数学模型;
获取所述目标回波双曲线的双曲线坐标值;
根据所述双曲线数学模型,将所述双曲线坐标值拟合成双曲线方程;
根据所述双曲线方程,确定所述响应剖面数据信息的偏移速度。
进一步的,所述获取所述目标回波双曲线的双曲线坐标值,具体包括:
采用互相关分析方法,计算互相关系数最大时对应的道间延迟时间;
根据所述道间延迟时间,选取所述探地雷达的收发天线在被测目标体正上方位置时反射信号所在的数据道为起始道,分别向左和向右进行互相关计算,获得所述数据道的双程旅行时间。
进一步的,所述采用互相关分析方法,计算互相关系数最大时对应的道间延迟时间,之后还包括:
根据所述道间延迟时间和预先设置的采样间隔时间,生成插值间隔;
根据所述插值间隔,对所述响应剖面数据信息进行插值。
进一步的,所述根据所述双曲线数学模型,将所述双曲线坐标值拟合成双曲线方程,具体包括:
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